飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）的背散射成像，用來掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識別在該粒子中的元素。zui常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測，例如 Ti 和 Zn 也可zui為搜索條件進行搜索。

  飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）是*在臺式掃描電鏡運行自動射擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化，以提高用戶操作界面友好性，可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目：自動射擊殘留物分析和分類軟件包，BSED 和 EDS 探頭內(nèi)部集成，校準試樣。

  飛納電鏡射擊殘留物分析（GSR）配備 CeB6 燈絲，使其穩(wěn)定運行，燈絲壽命不低于 1500 個小時，從可用性，適用性和運行時間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時間，和快速的全自動馬達樣品臺，使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具，可以用來進行自動射擊殘留物分析。

飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR

• 基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

• 直觀易用的 GSR 軟件

• 高吞吐量，一次性放置多達 36 個試樣

• 操作簡單，*丟失導航系統(tǒng)，*集成能譜儀

• 測量結果準確可靠，廣泛兼容法醫(yī)領域的各類應用

規(guī)格參數(shù)