2017 年 11 月 5 日，第十屆 CICC 先進陶瓷研討會在江西南昌力高皇冠酒店開幕。國內(nèi) 600 余名高校師生和國外 100 余名專家學(xué)者出席開幕式。

CICC 先進陶瓷研討會是由中國硅酸鹽學(xué)會發(fā)起并主辦、中國硅酸鹽學(xué)會特種陶瓷分會具體承辦的一個系列性學(xué)術(shù)會議。參加會議的主要有國內(nèi)外從事先進陶瓷研究、開發(fā)與生產(chǎn)工作的專家、學(xué)者、工程技術(shù)人員及在校研究生。經(jīng)過二十年的發(fā)展，現(xiàn)已成為亞洲乃至世界上具有相當(dāng)影響力的大型學(xué)術(shù)會議。

大會主會場

飛納電鏡參加了此次盛會，并且應(yīng)用工程師在會議中做了題為 “飛納臺式掃描電鏡在陶瓷領(lǐng)域的應(yīng)用” 的報告，該專場報告受到業(yè)內(nèi)科研人員的歡迎，老師們紛紛表達出對臺式掃描電鏡的濃厚興趣。

飛納工程師進行專題報告

此次研討會設(shè)立了先進陶瓷材料制備及表征產(chǎn)品展覽會，飛納臺式電鏡的產(chǎn)品電鏡能譜一體機 Phenom ProX 在展會現(xiàn)場進行了演示和試用。許多老師被飛納電鏡小巧的外形、便捷的操作以及強大的功能所吸引，并在現(xiàn)場親自感受了飛納電鏡的*魅力。

飛納電鏡受到師生們廣泛歡迎

飛納電鏡采用 CeB6 燈絲，使用高亮度的 CeB6 燈絲，能夠為使用者提供襯度明顯、分辨率高的背散射電子圖像，這對于陶瓷材料的研發(fā)和品控提供了強有力的支持和保證。同時，充足的燈絲信號保證 EDS 能譜探頭接受到更多信號，使得飛納電鏡在能譜點線面掃描中都更具優(yōu)勢。

BSD信號可以明顯區(qū)分成分襯度

晶界腐蝕后的陶瓷晶粒

陶瓷能譜面掃