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壓力衰減法密封檢漏儀-綜述壓力衰減測(cè)試是一種用于檢測(cè)無(wú)孔、剛性或柔性包裝中泄漏的定量測(cè)量方法。如果加壓氣體的引人導(dǎo)致包裝壁或密封件破裂,則該測(cè)試是破壞性的。如果將氣引人測(cè)試樣品不會(huì)損害包裝屏障,則該測(cè)試是非破壞性的。壓力衰減測(cè)試旨在用測(cè)試樣品的氣體頂空區(qū)域的完整性檢測(cè)。
壓力衰減法密封檢漏儀-綜述
壓力衰減測(cè)試是一種用于檢測(cè)無(wú)孔、剛性或柔性包裝中泄漏的定量測(cè)量方法。如果加壓氣體的引人導(dǎo)致包裝壁或密封件破裂,則該測(cè)試是破壞性的。如果將氣引人測(cè)試樣品不會(huì)損害包裝屏障,則該測(cè)試是非破壞性的。壓力衰減測(cè)試旨在用測(cè)試樣品的氣體頂空區(qū)域的完整性檢測(cè)。
為了進(jìn)行測(cè)試,需將干燥空氣或惰性氣體壓力源連接到配有內(nèi)部壓力監(jiān)測(cè)裝置的測(cè)試樣品上,其測(cè)試樣品需被加壓至預(yù)定壓力,且之后需與壓力源隔離。在預(yù)時(shí)間內(nèi)的壓力衰減將被監(jiān)測(cè)。超過(guò)使用陰性對(duì)照確定的預(yù)定極限的壓力衰減表明容器存有泄漏。
綜述范圍
無(wú)孔、剛性或柔性包裝可被檢測(cè):
1、 可以測(cè)試那些不受產(chǎn)品(例如油、水或其他液體)阻礙的包裝表面:這種方法不會(huì)檢測(cè)到液體填充水平以下的小泄漏
2、 當(dāng)暴露于測(cè)試壓力條件下時(shí),柔性包裝或具有非固定組件的包裝分別需要用工具來(lái)限制包裝膨脹或移動(dòng)。其工具可最大限度地減小柔性包裝的密封強(qiáng)度。并在整個(gè)泄漏路徑上使包裝體積和壓差條件保持一致。
3、 壓力衰減可用于測(cè)試從體積幾毫升大型散裝儲(chǔ)存容器的任何包裝。測(cè)試需要幾秒到幾個(gè)小時(shí)才能完成。測(cè)試較大容量的容器需要更長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。延長(zhǎng)測(cè)試周期可檢測(cè)較小的泄漏。
壓力衰減測(cè)試在產(chǎn)品生命周期的任何階段都很有用。
測(cè)試可以在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行,也可以在生產(chǎn)環(huán)境中線下進(jìn)行。允許長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室或線下測(cè)試設(shè)備通常能夠檢測(cè)較小的泄漏。在包裝填充和封閉之前,可以使用更高速的線上壓力衰減設(shè)備來(lái)檢查開(kāi)口包裝中的缺陷。
壓力衰減測(cè)試儀器包括將測(cè)試樣品與測(cè)試系統(tǒng)壓力傳感器以及壓力源連接的導(dǎo)管。儀器包括合適的定時(shí)器、電子控制和監(jiān)視器。當(dāng)儀器保持在溫度受控的環(huán)境中時(shí);測(cè)試樣品(特別是體積較大的樣品)在測(cè)試過(guò)程中保持在受控的恒溫下;使用恒溫干燥加壓氣體時(shí),可以獲得較大測(cè)試方法的靈敏度和重現(xiàn)性??蛇x擇使用單獨(dú)設(shè)計(jì)的工具分別限制可移動(dòng)或柔性部件的移動(dòng)或膨脹,從而保持測(cè)試樣品體積的恒定同時(shí)限制其密封強(qiáng)度。
技術(shù)參數(shù)
指標(biāo) 參數(shù)
真空度 0--100kPa
檢測(cè)孔徑精度 <3μm
設(shè)備操作 自帶HMI
內(nèi)部壓力 常壓
測(cè)試系統(tǒng) 真空傳感器技術(shù)
真空來(lái)源 外接真空泵
測(cè)試腔 根據(jù)樣品定做
檢測(cè)原理 真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)
主機(jī)尺寸 500mmX360mmX320mm(長(zhǎng)寬高)
重 量 18Kg
環(huán)境溫度 20℃-30℃
相對(duì)濕度 80%,無(wú)凝露
工作電源 220V
壓力衰減法密封檢漏儀-綜述
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