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原子熒光光譜法（AFS）作為痕量分析技術(shù)的一種，有哪些優(yōu)缺點？
閱讀：6593 發(fā)布時間：2020-5-8
原子光譜，是由原子中的電子在能量變化時所發(fā)射或吸收的一系列波長的光所組成的光譜。原子光譜法是由原子外層或內(nèi)層電子能及的變化產(chǎn)生的，表現(xiàn)形式為線光譜。常用的原子光譜有：
原子熒光光譜法（AFS）是一種痕量分析技術(shù)，是原子光譜法中的一個重要分支。是介于原子發(fā)射光譜法(AES)和原子吸收光譜法(AAS)之間的光譜分析技術(shù) ，所用儀器及操作技術(shù)與原子吸收光譜法相近。
1、原子發(fā)射光譜法（AES）
2、原子吸收光譜法（AAS）
3、原子熒光光譜法（AFS)
4、X射線熒光光譜法(XFS)
原子熒光光譜法（AFS）是一種痕量分析技術(shù)，是原子光譜法中的一個重要分支。是介于原子發(fā)射光譜法(AES)和原子吸收光譜法(AAS)之間的光譜分析技術(shù) ，所用儀器及操作技術(shù)與原子吸收光譜法相近。
原子熒光光譜儀(AFS)與原子吸收光譜儀(AAS)和原子發(fā)射光譜儀(AES)相比，主要特點是：
1、檢出限低，靈敏度高，采用新的高強度光源可進一步降低檢出限；
2、譜線簡單，干擾少，對ICP -AFS來說，幾乎沒有光譜干擾和基體干擾，其選擇性甚至優(yōu)于ISP-MS；
3、分析線性范圍寬，可達3～5個數(shù)量級；
4、由于原子熒光發(fā)射的空間多方性，比較容易制造多道儀器，實現(xiàn)多元素的同時測定；5、儀器結(jié)構(gòu)簡單，價格便宜，易于普及。
1、檢出限低，靈敏度高，采用新的高強度光源可進一步降低檢出限；
2、譜線簡單，干擾少，對ICP -AFS來說，幾乎沒有光譜干擾和基體干擾，其選擇性甚至優(yōu)于ISP-MS；
3、分析線性范圍寬，可達3～5個數(shù)量級；
4、由于原子熒光發(fā)射的空間多方性，比較容易制造多道儀器，實現(xiàn)多元素的同時測定；5、儀器結(jié)構(gòu)簡單，價格便宜，易于普及。
盡管原子熒光分析法有許多優(yōu)點，也還是存在部分不足之處：
1、由于熒光猝滅效應的存在，致其在測定復雜基體樣品和高含量樣品時，還有一定的困難；
2、原子熒光具有固有的散射光干擾，使得其對激發(fā)光源和原子化器有較高的要求，從而導致在現(xiàn)有技術(shù)條件下，原子熒光光譜分析理論上所具有的優(yōu)勢在實際中難以充分發(fā)揮出來；
3、除HG—AFS在測定As、Sb、Se等易于生成氫化物的元素以及Hg等易于生成蒸氣的元素具有*的優(yōu)勢外，目前AFS測定的元素種類較少；
4、理論上AFS分析的線性范圍很寬，但在目前的實際應用中部分元素仍未能達到預想的線性范圍；
5、氣相、液相干擾機理等尚待進一步研究。
因此，AFS技術(shù)在應用方面還不如AAS和AES廣泛，三者具有各自的優(yōu)點和適應范圍。這三種方法相互補充，構(gòu)成一個完整的原子光譜分析體系。
1、由于熒光猝滅效應的存在，致其在測定復雜基體樣品和高含量樣品時，還有一定的困難；
2、原子熒光具有固有的散射光干擾，使得其對激發(fā)光源和原子化器有較高的要求，從而導致在現(xiàn)有技術(shù)條件下，原子熒光光譜分析理論上所具有的優(yōu)勢在實際中難以充分發(fā)揮出來；
3、除HG—AFS在測定As、Sb、Se等易于生成氫化物的元素以及Hg等易于生成蒸氣的元素具有*的優(yōu)勢外，目前AFS測定的元素種類較少；
4、理論上AFS分析的線性范圍很寬，但在目前的實際應用中部分元素仍未能達到預想的線性范圍；
5、氣相、液相干擾機理等尚待進一步研究。
因此，AFS技術(shù)在應用方面還不如AAS和AES廣泛，三者具有各自的優(yōu)點和適應范圍。這三種方法相互補充，構(gòu)成一個完整的原子光譜分析體系。