Chroma19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

Chroma19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀

      Chroma 19036為業(yè)界結(jié)合脈沖測(cè)試，耐壓、電阻與直流電阻量測(cè)于單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試，節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。

      繞線元件的測(cè)試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測(cè)試、IR電阻測(cè)試、繞線元件脈沖測(cè)試(IWT)及直流電阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測(cè)試整合于19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對(duì)馬達(dá)、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測(cè)試，讓繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠的測(cè)試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

      線圈自體不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良，或材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī)測(cè)試制程中加入線圈層間短路測(cè)試，即可多組繞組一次掃描測(cè)試完成，進(jìn)一步的提升繞線元件品質(zhì)。

      19036結(jié)合層間短路測(cè)試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)(Flutter)及波形二階微分偵測(cè)(Laplacian)等判定，提供線圈自體不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測(cè)方法。

      19036設(shè)計(jì)四線直流電阻量測(cè)接口，包含Drive 與 Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測(cè)與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒可達(dá)到40通道掃描測(cè)試 。

      19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線元件接觸不良而導(dǎo)致測(cè)試失敗的問題。

      馬達(dá)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測(cè)試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測(cè)AC100mA/DC 20mA的能力。對(duì)于漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測(cè)試的使用者，高功率的耐壓測(cè)試與其他安規(guī)測(cè)試整合于一臺(tái)綜合測(cè)試儀，將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來的效益，500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對(duì)輸出功率的要求。

五合一安規(guī)掃描分析儀 耐壓測(cè)試(Hi-pot) 
   - HSCC 高速接觸檢查

•    - 5kV

•    -脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)

•    - 10通道四線直流電阻測(cè)試 
  支援大40通道掃描測(cè)試

• USB波形儲(chǔ)存& 畫面擷取功能

• 標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232介面

型號(hào)              規(guī)格

19036        繞線組件電氣安規(guī)掃描分析儀
A190359    16信道高壓掃描治具

A190360    19036 19吋機(jī)框耳架
A190362    16通道四線式高壓掃描治具
A190363    雙十字高壓香蕉頭+測(cè)試夾
A190364    雙十字高壓香蕉頭+截平(1.5m)
A190365   雙十字高壓香蕉頭+截平(3m)