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深圳市博斯特電子儀器有限公司
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福祿克Fluke1621 接地電阻測試儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號F1621

品       牌FLUKE/福祿克

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時間:2024-10-25 07:03:27瀏覽次數(shù):1485次

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應(yīng)用領(lǐng)域 電子,電氣
福祿克Fluke1621 接地電阻測試儀 對于接地電阻測試場合,1621 是檢測可靠接地連接線路的*道防線。 裝置采用多種基本的接地測試方法,其中包括三極電壓降測試法及兩極接地電阻測試法。 它的尺寸輕巧方便,擁有結(jié)實的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏,使之成為大多數(shù)電氣接地工作場合的理想現(xiàn)場接地測試儀。 Fluke 1621 擁有簡單的用戶界面和直觀易用的功能

福祿克Fluke1621 接地電阻測試儀 福祿克Fluke1621 接地電阻測試儀

常規(guī)技術(shù)指標(biāo)
測量功能

三極接地電阻,兩極交流電阻,干擾電壓
基本誤差

查閱參考溫度范圍,提供一年保修
測量速率

每秒測量 2 次
電池

1 個 9 伏堿性電池 (LR61)
電池電量狀態(tài)

如果電壓低于 6.5 V,則會顯示 LO-BAT(低電量)
電壓
H/C2 和 E/C1 接頭之間:zui大 250 Veff(有效電壓)
S/P2 和 E/C1 接頭之間:zui大 250 Veff
氣候類別

VDE/VDI 3540 RZ(符合 KWG,每個 DIN 40040,4/87)
溫度性能
工作:-10 °C 至 +50 °C(+14 °F 至 +122 °F)
操作:0 °C 至 +35 °C(+32 °F 至 +95 °F)
存儲:-20 °C 至 +60 °C(+68 °F 至 +140 °F)
參考:+23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)
溫度系數(shù)

量程的 ± 0.1 %,每開氏溫度
安全

IEC/EN 61010-1,600 V,II 類,2 級污染
尺寸

113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米((4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸),包括護(hù)套
重量

850 克(1.9 磅),包括標(biāo)準(zhǔn)附件,體積約 600 立方厘米
注:

如果不使用測試儀,或需要長期存放,請卸下電池并與測試儀分開存放,以免電池泄露對測試儀造成損害。
注:

測試儀的 4 個溫度范圍符合歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)要求;通過使用溫度系數(shù)來計算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度,儀器可在整個溫度范圍內(nèi)正常工作。


電氣技術(shù)指標(biāo)
zui大偏差:
E1 影響因素位置
E1 偏差影響0%
E2 影響因素電壓
E2 偏差影響0%
E3 影響因素溫度 E3
E3 偏差影響2.3 %
E4 影響因素串行干擾電壓 (20 V)
E4 偏差影響0.6 %
E5 影響因素探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響10%
測試電壓

3.7 kV
保護(hù)等級

IP 40;IEC/EN 60529
電磁兼容性

輻射: EC/EN 61326,B 類

抗擾: IEC/EN 61326,附錄 C
RE 電阻測量
測量方法使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測量,無需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測量,使用探針(三極)或不使用探針(兩極),符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn)
開放電路電壓23 至 24 V ac
短路電流> 50 mA ac
測量頻率128 Hz
zui大許可過載250 Veff
測量時間

8 秒(從按“開始起計算的平均值)
限制輸入

即使測試儀關(guān)閉,仍會保留設(shè)定值(如果電池電量充足)
自動切換分辨率
RH< 7 kΩ
分辨率0.01 Ω
RH< 50 kΩ
分辨率0.1 Ω
RH> 50 kΩ
分辨率1 Ω
干擾直流和交流電壓顯示
zui大電壓30 Veff
共模抑制> 80 dB,50 Hz 和 60 Hz
Ri680 kΩ
測量誤差對于純交流電和直流電信號,< 10 %


量程
0.15 Ω 至 20 Ω
分辨率0.01 Ω
顯示范圍0 至 19.99 Ω
200 Ω
分辨率0.1 Ω
顯示范圍20 至 199.9 Ω
2 kΩ
分辨率1 Ω
顯示范圍200 至 1999 Ω
基本誤差

±(測量值的 6 % + 5 位數(shù)字)
操作誤差 IEC 61557

±(測量值的 18 % + 5 位數(shù)字)
注:

[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值,即會閃爍。
測量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。


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