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環(huán)境分析應用事例
大氣粉塵濾片分析事例（中國環(huán)境標準）
日本理學正是大氣顆粒物元素分析，90年代已經(jīng)跟中日友好環(huán)境保護中心合作建立大氣粉塵濾片的分析方法。
使用XRF分析大氣粉塵非常的容易。
濾片基本上原樣分析，使用上照式波長色散x射線熒光光譜儀時不用擔心粉塵落下，
濾片一般對X射線沒有那么耐性，所以調整分析條件更好
1、把功率下降一點
2、使用濾光片（Be,Al,Ni）
工具：樣品處理工具配件（鋁制或者鈦制中空樣品杯，樣品支持板等等）
推薦：對III型追加Ge晶體
補充：大氣粉塵定量分析