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淺析手持x射線熒光光譜儀檢測(cè)的基本過程
手持x射線熒光光譜儀是一種原子發(fā)射方法，在這方面與光發(fā)射光譜，ICP和中子活化分析（γ光譜）相似。X射線管通過產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），來激發(fā)被測(cè)樣品。 受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長(zhǎng)。在x射線熒光光譜儀中，來自X射線管的主要X射線束照射會(huì)導(dǎo)致發(fā)出熒光X射線，而熒光X射線具有樣品中存在的元素的離散能量特征。
XRF分析是一種可靠的技術(shù)，將高精度和高準(zhǔn)確度與簡(jiǎn)單，快速的樣品制備結(jié)合在一起。它可以很容易地實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，以用于高通量工業(yè)環(huán)境，此外，x射線熒光光譜儀還可以提供有關(guān)樣品的定性和定量信息。x射線熒光光譜儀還可以使快速篩選分析。
手持x射線熒光光譜儀檢測(cè)的基本過程：
x射線熒光光譜儀可以在原子級(jí)發(fā)生的簡(jiǎn)單三步過程中考慮：
傳入的 X 射線從材料原子內(nèi)的原子核周圍的軌道之一中敲出電子。
在軌道中產(chǎn)生一個(gè)空穴，導(dǎo)致原子具有高能量、不穩(wěn)定的構(gòu)型。
為了恢復(fù)平衡，一個(gè)電子從更高能量的外軌道落入空穴。由于這是一個(gè)較低的能量位置，多余的能量以熒光 X 射線的形式發(fā)射。
排出電子和替代電子之間的能量差異是發(fā)生熒光過程的元素原子的特征——因此，發(fā)射的熒光 X 射線的能量與被分析的特定元素直接相關(guān)。正是這一關(guān)鍵特性使 XRF 成為如此快速的元素組成分析工具。