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實(shí)驗(yàn)人員必知！X熒光光譜儀與火花直讀光譜儀的區(qū)別與聯(lián)系
X熒光光譜儀與火花直讀光譜儀的區(qū)別和聯(lián)系
分析原理：
X熒光光譜分析儀是利用高能量的X光，打擊試樣，使試樣中被測元素的內(nèi)層電子被激發(fā)打走，次內(nèi)層電子回落到內(nèi)層，同時產(chǎn)生一個光子，這個光子具有特定的頻率，與其他原子同樣條件下產(chǎn)生的光子不同，儀器再經(jīng)過光柵色散，把這一種元素產(chǎn)生的單色光分離出來，再利用一個光電管，把這一種光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?，這個電信號與試樣中被測物質(zhì)的含量成一定的比例關(guān)系。但是這樣并不能獲得試樣中被測物質(zhì)的含量，還必須與標(biāo)準(zhǔn)試樣在同樣條件下獲得的電信號進(jìn)行比較才能獲得試樣中被測物質(zhì)的百分含量。
熒光光譜儀原理，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時，驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原子壽命約為（10）-12-（10）-14s，然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)，這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨及在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應(yīng)，亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。
X熒光光譜儀也是一種發(fā)射光譜法，但它的激發(fā)過程是利用光來激發(fā)，而輻射的波長在比紫外更短的X射線區(qū)。
熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)
儀器是由計算機(jī)控制，自動化水平高，分析速度快，它不需要像火花直讀光譜那樣需要試樣具有導(dǎo)電性，所以可以完成非金屬試樣的分析，它可以同時完成多個被測元素或被測組分的百分含量，如Mg、Al、Zn、Mn、Si、Cu、Ni、Fe、Be、Sr、MgO、Al2O3、SiO2、CaO及稀土等可以同時完成。多數(shù)用戶的X熒光光譜分析儀只是專門用來分析精礦粉、石灰、青石、白云石、爐渣、溶劑等不導(dǎo)電的試樣。同時它也可以進(jìn)行金屬材料等導(dǎo)電試樣的分析。其他特點(diǎn)與直讀光譜相同。
X射線熒光直讀光譜儀可以分析粉末樣品、熔融樣品、液體樣品、固體樣品等，非金屬或金屬都可以分析。
火花直讀光譜儀只能分析固體樣品，而且要求樣品是導(dǎo)電介質(zhì)，簡單的說就是分析金屬固體樣品中的金屬或非金屬元素。
后說說它們的精度（分析正確度）
除了ICP以外，直讀光譜和X熒光都依靠標(biāo)準(zhǔn)樣品的質(zhì)量。如果，不能準(zhǔn)備*的標(biāo)準(zhǔn)樣品，不可能得到標(biāo)準(zhǔn)偏差。標(biāo)準(zhǔn)樣品是當(dāng)然一定要沒有偏析，正確的標(biāo)準(zhǔn)值。