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LFA 467-閃射法導熱儀(RT...1250°C)
  • LFA 467-閃射法導熱儀(RT...1250°C)

貨物所在地:四川成都市

更新時間:2024-07-13 21:00:05

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閃射法導熱儀(RT...1250°C)
開創(chuàng)熱擴散系數(shù)與導熱系數(shù)測量的新天地 —— 快速、簡單、經(jīng)濟
精確的熱擴散系數(shù)與導熱系數(shù)測試,覆蓋 RT...1250°C 的寬廣溫度范圍
閃射法導熱儀 LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺構建,可在室溫...1250°C之間進行精確的熱擴散系數(shù)與導熱系數(shù)測量。

 閃射法導熱儀(RT...1250°C)

閃射法導熱儀(RT...1250°C)

閃射法導熱儀(RT...1250°C)

閃射法導熱儀(RT...1250°C)

開創(chuàng)熱擴散系數(shù)與導熱系數(shù)測量的新天地 —— 快速、簡單、經(jīng)濟

閃射法導熱儀 LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺構建,可在室溫...1250°C之間進行精確的熱擴散系數(shù)與導熱系數(shù)測量。儀器使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng),擁有超長的光源壽命,在寬廣的溫度范圍內提供了精確的導熱測量,基本無耗材。

ZoomOptics - 優(yōu)化檢測范圍,獲取精確的測量結果

的 ZoomOptics 系統(tǒng)(號:DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)優(yōu)化了檢測器的檢測范圍,消除了樣品外緣的干擾信號,可大大提高測量結果的準確度。

超高的數(shù)據(jù)采集速率(zui高 2MHz),極窄的光脈沖寬度(zui小 20μs 以下),允許測量薄的高導熱的材料

LFA 467 HyperFlash® 系列產品的數(shù)據(jù)采集速率提升到了 2 MHz。這一超高的數(shù)據(jù)采集速率同時體現(xiàn)在紅外檢測器,以及 pulse mapping 通道上。由此,可以有效地測試傳熱時間非常短的高導熱薄層材料,如厚度 0.3mm 左右的金屬薄片,或厚度 30μm 左右的聚合物薄膜。

的 pulse mapping 系統(tǒng)將有限脈沖寬度效應、以及熱損耗納入計算(號:US7038209 B2; US20040079886; DE1024241)。

 

真空密閉,保證氣氛純凈,防止樣品氧化

儀器內置全自動真空系統(tǒng),在測量開始之前可進行自動抽真空與氣氛置換操作,保證了氣氛的純凈性。儀器另有擴展的真空接口,可連接到外部真空泵。鉑爐為真空密閉設計,zui快升溫速率可達 50K/min。

通過四樣品位+四組獨立熱電偶的設計,提高測樣效率與測溫準確性

儀器通過自動進樣器(ASC),實現(xiàn)了在寬廣溫度范圍內的高效測試。ASC 包含四個樣品位,可裝載直徑 12.7mm 的圓形樣品,或 10mm 規(guī)格的圓形或方形樣品。每個樣品位都擁有獨立的熱電偶。這一設計極大地縮小了樣品與測溫點之間的溫度偏差。

體積小巧,高度集成化

LFA 467 HT HyperFlash® 是基于氙燈光源而能達到 1250°C 高溫的 LFA 系統(tǒng)。儀器配備單一的爐體,帶內置的自動進樣器,在保持 LFA 467 HyperFlash® 一貫的小巧體積的同時,覆蓋了寬廣的溫度范圍。即使在較高的溫度下,有效的內部循環(huán)水冷系統(tǒng)仍能保證周圍部件的溫度處于安全范圍之內,由此減少了紅外檢測器的液氮消耗量。

LFA 467 HT HyperFlash® - 技術參數(shù)

  • 溫度范圍:RT ... > 1250°C,單一爐體
  • zui大升溫速率:50 K/min
  • 紅外檢測器:InSb(RT ... >1250°C,可配備液氮自動充填設備)
  • 數(shù)據(jù)采集速率:zui大 2 MHz(同時適用于紅外檢測器與 pulse mapping 通道)
  • 熱擴散系數(shù)范圍:0.01 mm2/s ... 1000 mm2/s
  • 導熱系數(shù):< 0.1 W/(m*K) ... 2000 W/(m*K)
  • 的 pulse mapping 技術:用于有限脈沖修正,以及提高比熱測量精度
  • 氣氛:惰性,氧化性,靜態(tài)與動態(tài)
  • 真空:10-4 mbar
  • 樣品支架:適合圓形與方形樣品
  • 氣氛控制:MFC 與 AutoVac

LFA 467 HT HyperFlash® 結構示意圖
使用閃光源加熱樣品的下表面,使用紅外檢測器檢測樣品上表面的溫度上升過程

 

ZoomOptics 獲取更準確的測量結果,減小測量誤差

對于傳統(tǒng)的 LFA 系統(tǒng)設計,檢測器所覆蓋的檢測面積通常被調整為適合樣品的zui大尺寸(25.4mm)。對于直徑較小的樣品,通常在樣品之上加上遮光片或遮罩,以盡可能地遮蔽外圍區(qū)域。但由于任何物體都會發(fā)射紅外輻射,遮光片或遮罩材料也不例外,由此得到的檢測器信號不可避免地會受到影響。該影響的程度大小與樣品和遮罩材料的熱擴散系數(shù)的差異有關。由此導致對于某些樣品,檢測器測得的溫度上升曲線的尾部可能出現(xiàn)持續(xù)上升,或者過早地達到水平狀態(tài)。不管是哪種情況,都會導致分析得到的半升溫時間發(fā)生偏移,由此計算得到的熱擴散系數(shù)產生誤差。

使用 LFA467 配備的 ZoomOptics(號:DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)附件,可以更靈活地調整檢測器的檢測范圍,確保檢測器僅檢測到樣品上表面的溫度升高過程,無需額外的遮罩,周圍環(huán)境信號也沒有任何影響。預設的檢測直徑比率為 70%,適合于大多數(shù)應用,同時軟件允許操作者自由調整該數(shù)值,以適應特定的樣品尺寸與應用。

下圖 Pyroceram 的熱擴散系數(shù)測量對比,清晰地顯示了 ZoomOptics 的優(yōu)點:

ZoomOptics

LFA 467 HT HyperFlash® - 應用實例

全溫度范圍內的高精度

圖中曲線為標樣 Inconel 600 的熱擴散系數(shù)(紅點)、導熱系數(shù)(藍點)和比熱(黑點)測試結果。與理論值(實線)相比,實測數(shù)據(jù)點的偏差均小于±3%,精度水平普遍好于±3%。

RT 到 1000℃ 范圍內熱擴散系數(shù)(紅點)、導熱系數(shù)(藍點)和比熱(黑點)測試結果。
樣品為 Inconel 600 標樣,實線為文獻數(shù)據(jù)。

 

 

銀具有很高的電導率,有助于降低鍍線電阻,這在高頻率應用時特別有利。

左圖對不同厚度銀片樣品進行熱擴散系數(shù)的對比測試。在 300K 的測試溫度下,不同厚度的樣品測試結果(從薄到厚)與文獻值相比,偏差均在 ±3% 以內。

不同厚度的銀樣品的熱擴散系數(shù)測量值與文獻值吻合良好

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