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頂空分析法是將待測樣品置入密閉的容器中,通過加熱升溫使揮發(fā)性組分從樣品基體中揮發(fā)出來,在 氣液或氣固兩相中達到平衡,直接抽取頂部氣體進行色譜、質(zhì)譜分析,從而檢驗樣品中揮發(fā)性組分的成分和含量,頂空進樣可以免除冗長繁瑣的樣品前處理過程,避免有機溶劑對分析造成的干擾,減少對色譜柱及進樣口的污染,是目前使用較廣泛的前處理方法。