產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
DS/JB4040表面污染檢測儀,適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測,同時(shí)也適用與X、γ輻射劑量率的監(jiān)測。儀器采用GM探測器陣列,具有較高的探測效率;是環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、核醫(yī)學(xué)、分子生物學(xué)、放射化學(xué)、核原料運(yùn)輸、儲存和商檢等領(lǐng)域進(jìn)行β、γ輻射表面污染檢測或Xγ輻射防護(hù)監(jiān)測的理想儀器,該儀器采用單片機(jī)控制,LCD液晶顯示,讀數(shù)清晰、操作方便。
特點(diǎn)與功能
GM探測器陣列,探測效率高
便攜式設(shè)計(jì),重量輕
單片機(jī)控制,軟件功能強(qiáng)
LCD液晶顯示,會話式操作界面
計(jì)數(shù)率顯示cpm、cps、μSv/h
電池失效報(bào)警
主要技術(shù)指標(biāo)
計(jì)數(shù)范圍:1~106
顯示單位:cpm、cps、μSv/h
探測器面積:35cm2
靈敏度:≥500cpm/μSv/h
劑量率范圍:0~200.00µSv/h
儀器本底:β≤130 cpm
相對誤差:測量范圍內(nèi)相對基本誤差≤20%
供電電源:2節(jié)1.5v普通1號電池,整機(jī)電流≤60mA
溫度范圍:-10℃~45℃
尺寸重量:0.64kg; 20×10×5(cm)