半導體電阻率測量儀TD-SB100A/2
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要,本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量??捎糜诟咝N锢斫逃龑嶒?,對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
半導體電阻率測量儀TD-SB100A/2(使用環(huán)境5—40℃,相對濕度<80%,供電220V 50Hz,為實驗室環(huán)境使用)
TD-SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數(shù)字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。
lSB118直流電壓電流源:是一臺4½位的電壓源及電流源,既可輸出5µV—50V,5檔可調電壓,基本誤差為±(0.1%RD+0.02%FS)又可輸出1nA—100mA,5檔可調電流,基本誤差為
±(0.03%RD+0.02%FS)詳見本公司產品SB118。
l PZ158A直流數(shù)字電壓表:具有6½位字長,0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器,可測量0-1000V直流電壓?;玖砍痰幕菊`差為±(0.002%RD+0.0005%FS),詳見本公司產品PZ158A。
l SB120/2四探針樣品測試平臺:該測試平臺120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進,故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便
四探針導體 半導體電阻率測量儀
產品名稱:微機熔點儀 產品型號: WRS-2 |
微機熔點儀 型號:HB-WRS-2
根據(jù)物理化學的定義,物質熔點是指該物質由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度。在有機化學領域中,熔點測定是認辯物質本性的基本手段,也是純度測定的重要方法之一。因此,熔點儀在化學工業(yè)、醫(yī)藥研究中具有重要地位,是生產藥物、香料、染料及其它有機晶體物質的*儀器。
HB-WRS-2型微機熔點儀采用光電檢測,LCD液晶顯示等技術,具有顯示初熔、終熔、熔化曲線及測量結果等功能。儀器采用藥典規(guī)定的毛細管作為樣品管。
熔點儀測量范圍:室溫-300℃
溫度數(shù)顯小示值:0.1℃
升溫素率:0.2,0.5,1.0,1.5,2.0,3.0,4.0,5.0(℃/min)
毛細管尺寸:外經¢1.4mm,內徑¢1.0mm
測量示值誤差:<200℃:±0.5℃
200℃-300℃:±0.5℃
重復性:升溫速度0.2℃/min時0.2℃
升溫速度1.0℃/min時0.3℃
特點:顯示熔化曲線及測量結果
產品名稱:植物冠層分析儀 植物冠層檢測儀 產品型號:TDP-1000 |
植物冠層分析儀/植物冠層檢測儀 型號:TDP-1000
植物冠層分析儀的功能與特點:
植物冠層分析用途:
可廣泛應用于農業(yè)生產和農業(yè)科研,為進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發(fā)育、產量品質與光能利用間的關系,本儀器用于400nm-700nm波段內的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米•秒上的微摩爾(μmols-1m-2)。
植物冠層分析儀特點:
1.儀器將顯示屏、操作按鍵、存儲SD卡及測量探桿一體化設計,操作簡單,體積小,攜帶方便
2.存儲介質采用SD卡,存儲容量大,數(shù)據(jù)管理方便
3.具有自動休眠功能
4.測量方式分為自動和手動兩種。自動測量時間間隔zui小1分鐘,自動測量次數(shù)zui大99次,手動測量根據(jù)實際需要手動采集
植物冠層分析儀技術參數(shù):
1、測量范圍:0-2700μmol m-2s-1
2、分辨率:1μmol m-2s-1
相對差度(譜響應):<10%(對植冠)
精度:<測量值的±0.5%±1個字
準確度:<測量值的±5%±1個字(相對于NIM標準
自動采集間隔:可選1-99分鐘
自動采集次數(shù):1-99次
數(shù)據(jù)存儲容量:2GB(標配SD卡)
儀器總長度:75cm
探桿長度:50cm
傳感器數(shù)量:25個(標配)
電源:2節(jié)5號電池
工作環(huán)境:0°C-60°C;100%相對濕度
穩(wěn)定性:一年內變化<±2%
植物冠層分析儀手持機示意圖: