當(dāng)前位置:> 供求商機> LS 13 320 XR-激光衍射粒度分析儀
[供應(yīng)]LS 13 320 XR-激光衍射粒度分析儀 返回列表頁
貨物所在地:上海上海市
產(chǎn)地:美國
更新時間:2024-11-07 21:00:07
有效期:2024年11月7日 -- 2025年5月7日
已獲點擊:610
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
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更新時間:2024-11-07 21:00:07
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您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。PIDS技術(shù),真正實現(xiàn)10nm粒徑測量;新型的干、濕進樣模塊,“即插即用”,滿足不同的分析要求,靈活便利;直觀的軟件和觸摸屏設(shè)計,大大簡化了儀器的操作,僅需點擊幾次便可獲得所需數(shù)據(jù)。LS 13 320 XR將為您帶來測量的新體驗!
貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR主要特點:
- 優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標準
- 符合FDA的21 CFR Part 11標準
- 檢測器數(shù)量更多,高達132枚獨立物理位置檢測器,對應(yīng)高達136個真實數(shù)據(jù)通道,能夠清晰
區(qū)分不同粒度等級間散射光強譜圖差異,確保不缺漏絲毫信息,快速、準確的真實粒度測量。
- “X”型對數(shù)排布檢測器陣列,可以準確記錄散射光強信號,不管單峰、多峰,準確
分析粒度分布。
- 全自動運算分析功能,多峰自動檢測,無需事先猜測峰型,無需選擇分析模型,提供客觀的唯
一報告。
- 升級版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能,真正實現(xiàn)10nm下限峰值測
量。
- PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒,而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
- 納米分析功能與微米分析功能合二為一,功能強大,真正10nm的測量可使其作為獨立的高分
辨率納米粒度分析儀使用。
- 新一代固體激光光源,無需預(yù)熱,7萬小時以上開機使用壽命 。
- 并行式信號采集與傳輸,確保信號保持高信噪比、無時差、高通量。
- 多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動態(tài)范圍內(nèi)的準確性分析獲得高度保障。
- 多種自動化樣品分散系統(tǒng),“即插即用”,數(shù)秒即可完成切換,高效便利。
- 新一代觸摸屏設(shè)計ADAPT分析軟件,操作更直觀,無需操作經(jīng)驗,簡單三步完成測量,直觀醒目的導(dǎo)航輪,僅需一步實現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導(dǎo)出。
- ADAPT軟件自動對測量結(jié)果標準綠色或紅色,自動合格/不合格管理,實現(xiàn)直接質(zhì)控。
- 軟件配有強大的光學(xué)參數(shù)數(shù)據(jù)庫,具有創(chuàng)新的“Zero-Time”即時光學(xué)模型系統(tǒng),只需一秒
即可建立新的光學(xué)模型,提供客觀準確的分析報告。
- 儀器配有自檢診斷功能,測試過程中隨時顯示測量情況。
貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR技術(shù)參數(shù):
- 粒徑范圍:10納米-3500微米 (峰值)
- 主光路激光光源:光纖連接的固體激光器
- 檢測器:132枚獨立物理角度檢測器
- 真實分析通道:136個
- 多波長測量:475nm、613nm、785nm及900nm
- 光學(xué)理論模型:全程Mie理論;Fraunhofer理論
- 準確性誤差:小于+/- 0.5%
- 重現(xiàn)性誤差:小于+/- 0.5%
*本產(chǎn)品僅用于科研,不用于臨床診斷。
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