IV 測(cè)量性能:0.1 fA / 0.5 µV 測(cè)量分辨率
測(cè)量功能包括單通道和多通道掃描、時(shí)間采樣、列表掃描、準(zhǔn)靜態(tài) CV(使用 SMU)、HV-SPGU 的直接控制和任意線性波形生成 (ALWG) GUI。
可選的集成電容模塊支持高達(dá) 5 MHz 的 CV 測(cè)量
可選的基于定位器的 CV-IV 開關(guān)解決方案具有 0.5 µV 電壓測(cè)量分辨率和 10 fA、1 fA 或 0.1 fA 電流測(cè)量分辨率能力
通過內(nèi)置半自動(dòng)晶圓探針驅(qū)動(dòng)器和測(cè)試序列輕松實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化,無需通過快速測(cè)試模式進(jìn)行編程
可選的高壓半導(dǎo)體脈沖發(fā)生器單元 (HV-SPGU) 具有 10 ns 可編程脈沖寬度和 +/- 40 V(80 V 峰峰值)輸出。
可選的波形發(fā)生器/快速測(cè)量單元 (WGFMU) 具有 ALWG 和快速電流或電壓測(cè)量功能。
10 ns 脈沖 IV 解決方案可用于表征高 k 柵極電介質(zhì)和 SOI(絕緣體上硅)晶體管。
經(jīng)典測(cè)試模式可用于提供 4155/4156 界面的外觀、感覺和術(shù)語(yǔ),同時(shí)通過充分利用 Microsoft ® Windows ® GUI 功能增強(qiáng)用戶交互
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