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HORIBA參展的SEMICON China 2018
HORIBA參展的SEMICON China 2018
自1988年在上海舉辦以來(lái),SEMICON China已成為中國(guó)首要的半導(dǎo)體行業(yè)盛事之一,囊括當(dāng)今世界上半導(dǎo)體制造領(lǐng)域主要的設(shè)備及材料廠商。可以說(shuō),SEMICON China見(jiàn)證了中國(guó)半導(dǎo)體制造業(yè)茁壯成長(zhǎng),加速發(fā)展的歷史。
本屆SEMICON China于3月14日在上海開(kāi)幕,HORIBA也前來(lái)參加這一盛會(huì),力求在追求率的半導(dǎo)體行業(yè)中,為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測(cè)和分析工具,并提供解決方案。
HORIBA作為有著近200年光學(xué)、光譜經(jīng)驗(yàn)的老品牌,非常注重行業(yè)間合作,以推動(dòng)不同領(lǐng)域的科研技術(shù)發(fā)展以及成果轉(zhuǎn)化,譬如:HORIBA的輝光放電光譜技術(shù)就可用于半導(dǎo)體材料中鍍層的深度剖析;橢圓偏振光譜技術(shù)可用于薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)表征及工藝對(duì)鍍層的影響分析;拉曼光譜技術(shù)可用于半導(dǎo)體芯片缺陷分析診斷等。
本次盛會(huì),HORIBA專設(shè)展臺(tái),與科研專家及廠商面對(duì)面交流。如果您有任何疑惑或需求,歡迎光臨我們的展臺(tái),HORIBA的銷售和技術(shù)人員會(huì)給您提供專業(yè)的建議及解決方案。
附展會(huì)詳細(xì)信息如下:
展出時(shí)間:2018年3月14日-16日
展出地點(diǎn):上海新博覽中心
HORIBA展位號(hào):N2館 No.2601
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結(jié)合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學(xué)光譜技術(shù),HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測(cè)和分析工具及解決方案。如:光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)。今天HORIBA 的高品質(zhì)科學(xué)儀器已經(jīng)成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的。