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該試塊具有不同深度的臺(tái)階形狀，主要用于測(cè)定20°探頭(直探頭)的距離幅度特性。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
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階梯試塊（帶把）
該試塊具有不同深度的臺(tái)階形狀，主要用于測(cè)定20°探頭（直探頭）的距離幅度特性。
產(chǎn)品關(guān)鍵字：階梯試塊 帶把階梯試塊
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更新時(shí)間：2022-05-18 13:49:00瀏覽次數(shù)：906
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階梯試塊（帶把）
該試塊具有不同深度的臺(tái)階形狀，主要用于測(cè)定20°探頭（直探頭）的距離幅度特性。
產(chǎn)品關(guān)鍵字：階梯試塊 帶把階梯試塊
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