產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
美國(guó)CID CI-120植物冠層分析儀
CI-110和CI-120植物冠層分析儀快速的、精確的、非破壞性的評(píng)估葉面積指數(shù)(LAI);
CI-110和CI-120同步測(cè)量多種參數(shù),提供實(shí)時(shí)的冠層圖像,以及即時(shí)的光合有效輻射(PAR)和 葉面積指數(shù)(LAI)數(shù)據(jù)。只需要簡(jiǎn)單的將探頭放置到冠層下或冠層里面,就可以得到實(shí)時(shí)的、高分辨率的半球圖像。快速容易的捕獲圖像,然后分析全功能的PAR和LAI數(shù)據(jù)。分析結(jié)果保存在掌上電腦或筆記本電腦中。集成的CCD圖像獲取設(shè)備和一個(gè)24PAR陣列傳感器,CI-110和CI-120對(duì)于測(cè)量作物和森林中的植物冠層非常理想。
提供數(shù)據(jù)和計(jì)算
※ 葉面積指數(shù)(LAI)
※ 葉面平均坡度角度
※ 葉面分布/冠層開(kāi)闊:冠層以下可視天空部分(LD /CO)
※ 光合有效輻射(PAR)
※ 散射PAR透射
※ 光斑
※ 光合作用光量子通量密度(PQFD)
如何工作:CI-110和CI-120通過(guò)一個(gè)圖像捕獲CCD鏡頭,以及一個(gè)集成的陣列桿式傳感器,USB通訊接口以及軟件,同步測(cè)量PAR和圖像數(shù)據(jù)。通過(guò)用戶(hù)自定義的方位角和天頂角軟件計(jì)算太陽(yáng)光柱的透射系數(shù)。林隙比轉(zhuǎn)換程序(諾曼和坎貝爾,1989)用于計(jì)算評(píng)估冠層的葉面積指數(shù),散射輻射透射系數(shù),平均葉面坡度角度,以及植物冠層的消光系數(shù)。輸出可以顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上,也可以保存為一個(gè)文件。
CI-110/CI-120計(jì)算機(jī)和軟件:全新的和改善的CI-110植物冠層成像儀和一個(gè)緊湊的的掌上電腦一起運(yùn)輸,以及一個(gè)強(qiáng)大的軟件,設(shè)計(jì)和優(yōu)化為觸摸屏。新軟件是快速的、強(qiáng)大的、容易使用的,其特點(diǎn)為:
※ 嵌入式控制器和網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器
※ 植入的802.11b/g,HSPSA,WiMAX,藍(lán)牙2.0 + EDR
※ GPS Sirs Star3
※ 優(yōu)化為觸摸屏
※ 數(shù)字打格遮蓋(無(wú)需塑料器具)
※ GPS標(biāo)示位置信息
※ 圖像可以保存為多種格式(.png,.tiff,.jpeg等)
※ 在Google Maps/Earth上輸入數(shù)據(jù)
※ 輸出至KML
※ 創(chuàng)建一個(gè)廣泛的工程數(shù)據(jù)文件
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