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金屬四探針測(cè)試儀 電阻率檢測(cè)儀概述
DP-RTS11型金屬四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法的,用于測(cè)試金屬材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
金屬四探針測(cè)試儀 電阻率檢測(cè)儀 型號(hào):DP-RTS11
金屬四探針測(cè)試儀 電阻率檢測(cè)儀概述
DP-RTS11型金屬四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法的,用于測(cè)試金屬材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、探針測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由四探針測(cè)試儀主機(jī)直接顯示,亦可與計(jì)算機(jī)相連接通過(guò)四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。
儀器采用了新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。
本儀器適用于工廠、科研單位、院校對(duì)金屬材料的電阻性能測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo) :
測(cè)量范圍
電阻率:10-7~10-2?.cm;
方塊電阻:10-6~10-1 ?/□;
電導(dǎo)率:102~107s/cm;
電阻:10-7~10-2?;
可測(cè)晶片直徑
140mmX150mm(配 2A 型測(cè)試臺(tái));
200mmX200mm(配 2B 型測(cè)試臺(tái));
400mmX500mm(配 2C 型測(cè)試臺(tái));
恒流源 電流量程分為 0.1A、1A、10A 三檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表
量程及表示形式 000.00~199.99 mV;
分辨力:1µV;
輸入阻抗>1000M?;
精度:±0.5% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本指標(biāo)
間距:1±0.01mm;
針間絕緣電阻:≥1000M?;
機(jī)械游移率:≤0.3%;
探針:碳化鎢或高速鋼 Ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) (見(jiàn)探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤
0.0001Ω、0.001Ω、0.01Ω≤0.5%±1字;
整機(jī)測(cè)量大相對(duì)誤差 用標(biāo)準(zhǔn)電阻(0.0001Ω~0.01Ω)測(cè)試≤±3%;
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤8%
軟件功能
軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù)大值、
小值、平均值、大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成
直方圖,也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到Excel中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可
選擇自動(dòng)測(cè)量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試。
計(jì)算機(jī)通訊接口 并口,并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要 1.5 秒標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度:23±2℃;相對(duì)濕度:≤65%;