闡述關(guān)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱的正確使用操作方法特點(diǎn)和原理
廣東宏展科技有限公司為您闡述關(guān)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱的正確使用操作方法:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用單片機(jī)控制,電動(dòng)揚(yáng)擺、沖擊、微機(jī)測(cè)量、運(yùn)算、數(shù)顯結(jié)果并可打印等,工作效率高、測(cè)試精度高。在沖擊試樣后可利用剩余能量自動(dòng)揚(yáng)擺,做好下次試驗(yàn)準(zhǔn)備,操作簡便,工作效率高。
1、檢查冷熱沖擊試驗(yàn)箱,使擺錘刀口處于兩支承鉗口的中心。校正鉗口間的距離為。并檢查其空打時(shí)指針是否從上止點(diǎn)(大刻度)帶至下止點(diǎn)(零刻度)證明確無能量損耗,方能進(jìn)行正式試驗(yàn),然后舉起擺錘,將擺錘固定于規(guī)定的高度,同時(shí)把指針撥到大刻度處,使試驗(yàn)機(jī)控制桿處于沖擊試驗(yàn)的預(yù)備位置。
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2、測(cè)量試樣尺寸。冷熱沖擊試驗(yàn)箱如有條件可用沖擊試樣缺口投影儀檢查試樣缺口處的形狀尺寸及加工精度是否符號(hào)標(biāo)準(zhǔn)要求,剔除不合試驗(yàn)要求的試樣,然后對(duì)試樣編號(hào),并記下各試樣缺口橫截面處的尺寸。
3、確定試驗(yàn)溫度。將試樣放入沖擊試驗(yàn)低溫槽中,使用確切的介質(zhì)保溫。冷卻介質(zhì)液面高于試樣25mm以上。待達(dá)到選定的試驗(yàn)溫度并穩(wěn)定后開始計(jì)算保持時(shí)間,保溫時(shí)間一般不少15分鐘。取樣的手鉗應(yīng)和試樣一起保溫。
4、冷熱沖擊試驗(yàn)箱拉動(dòng)控制桿,使擺錘自由落下,沖斷試樣,從刻度盤上讀出沖擊吸收功(J),要求到1(J)。
5、拉動(dòng)控制桿,使擺錘停止擺動(dòng)。撿起沖斷的試樣,記下試樣號(hào)及沖擊吸收功Akv。同時(shí)將沖斷的試樣浸于*中,以防止斷口銹蝕,待沖擊試驗(yàn)結(jié)束后,用電吹風(fēng)吹干試樣,并評(píng)定結(jié)晶狀斷口面積百分?jǐn)?shù),記入試驗(yàn)記錄中。
6、用手鉗取出試樣,盡快穩(wěn)定地放于支座上,缺口背向擺錘刀口,并保證缺口平分面和擺錘刀口心中線重合。其偏差不應(yīng)超過0.2mm。為滿足這一要求,放試樣時(shí)可用標(biāo)準(zhǔn)樣板使缺口對(duì)準(zhǔn)鉗口中,分別處于鉗口的中心,或用試樣端面作為基準(zhǔn),在支座上放置定位塊,使試樣的缺口平分面處于鉗口的中心,但試祥從冷卻筒取出直到被沖斷,時(shí)間間隔應(yīng)不超出5秒。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)和原理
主要用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測(cè)試工具。
特點(diǎn):
1、上下兩箱式結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)換速度快,恢復(fù)時(shí)間短。操作簡便,合理的風(fēng)道循環(huán)系統(tǒng),溫度分布均勻。
2、中英繁三種語言液晶顯示程序控制器。強(qiáng)力制冷進(jìn)口壓縮機(jī),降溫速度快。完備可靠的安全裝置。
3、蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害;高可靠性設(shè)計(jì),適合于24小時(shí)連續(xù)試驗(yàn);試料槽*靜止,可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線;
4、采用觸控式彩色液晶顯示人機(jī)接口控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易;溫度制御精度高,全部采用PID自動(dòng)演算制御;
5、可選擇始動(dòng)位置,高溫或低溫開始循環(huán);具有預(yù)約起動(dòng)功能;可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動(dòng)除霜;可選擇二槽或三槽循環(huán);
6、運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)顯示;有異常或故障顯示及排除方法說明;氣動(dòng)式閥門方便開啟,保證氣密及斷熱保護(hù).