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試驗探針的生命周期中每一個階段都起著重要作用：從技術開發(fā)，到模型參數(shù)提取，再到設計驗證及調試一直到小規(guī)模生產測試和生產測試。
詳細介紹
試驗探針的生命周期中每一個階段都起著重要作用：從技術開發(fā)，到模型參數(shù)提取，再到設計驗證及調試一直到小規(guī)模生產測試和生產測試。通過使用試驗探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。
試驗探針的基本要求和工作原理：
1）試驗探針的平面?zhèn)鬏斁€應當直接與壓點相接觸而不用接觸導線。對于微帶線和隨后的共面探針設計，探針的接觸是用小的金屬球來實現(xiàn)的，這個金屬球要足夠大以保證可靠且可重復性的接觸。
2）為了能同時接觸到信號壓點和接地壓點，需要將探針傾斜。這個過程被稱為“探針的平面化”。
3）探針的接觸重復性比同軸連接器的可重復性要好得多。便于進行探針極尖和在片標準及校準方法的開發(fā)。
4）具有很高重復性的接觸可以進行探針的準確校準并將測量參考平面移向其極尖處。來自探針線和到同軸連接器的過渡所產生的探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。
5）由于其很小的幾何尺寸，人們可以假設平面標準件的等效模型純粹是集總式的。此外，人們可以從標準件的幾何尺寸來很容易地預測模型參數(shù)。