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探險(xiǎn)者EXPLORER便攜式X熒光光譜儀是天瑞儀器結(jié)合10年便攜式研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的，全新一代便攜式XRF產(chǎn)品。EXPLORER5000便攜式X熒光合金分析儀是使用全新大屏高分辨率液品顯示屏及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式合金分析儀。超低的檢出限使便攜式分析儀的性能媲美臺(tái)式機(jī);儀器體積小，重量輕，可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量，適用于各類(lèi)型合金樣品的分析。

合金行業(yè)應(yīng)用
貴金屬合金 
鍋爐壓力容器
鋼鐵冶煉 
航天工業(yè)
廢舊金屬回收 
船舶制造
機(jī)械制造與加工
考古

擁有500多種牌號(hào)的智能合金庫(kù)
EXPLORER5000可準(zhǔn)確檢測(cè)各種貴金屬合金、高低合金鋼、不銹鋼、工具鋼、鉻/鉬鋼、鎳合金、鈷合金、鎳/鈷耐熱合金、鈦合金、銅合金、青銅、鋅合金、鎢合金等，無(wú)損檢測(cè)，1秒鐘即可知曉材料的成分及合金牌號(hào)。還可對(duì)鋁、鎂輕合金牌號(hào)進(jìn)行快速鑒定，并可對(duì)材料進(jìn)行可靠性鑒別(PMI)和確認(rèn)，精確掌控材料品質(zhì)。
現(xiàn)場(chǎng)快速、準(zhǔn)確地分析鍍層厚度與含量

EXPLORER5000是使用全新大屏高分辨率液品顯示器及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式元素分析儀。EXPLORER5000可對(duì)大面積鍍層產(chǎn)品進(jìn)行膜厚分析，儀器不僅體積小、重量輕，可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量;而且性能堪比臺(tái)式機(jī)。

材料可靠性鑒別
在合金材料生產(chǎn)、機(jī)械設(shè)備加工制造過(guò)程中，對(duì)于材料的識(shí)與元素檢測(cè)是不可分割的EXPLORER 5000專(zhuān)業(yè)無(wú)損檢測(cè)能有效防止原材料混料，杜絕不必要的損失。

工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的品質(zhì)控制
EXPLORER 5000 專(zhuān)業(yè)無(wú)損檢測(cè)可用于鋼鐵治煉、鍋爐等高溫高壓行業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中的品質(zhì)控制與管理,確保材料品質(zhì);船舶制造、航空航天等高技術(shù)行業(yè)中合金成分的識(shí)別從而保障產(chǎn)品質(zhì)量與安全;電力電站等有關(guān)國(guó)計(jì)民生行業(yè)中，鑒定設(shè)備零部件是否達(dá)標(biāo)，保證設(shè)備安全。

廢舊金屬回收與再利用

針對(duì)廢舊金屬回收與利用行業(yè)，EXPLORER5000便攜式X熒光合金分析儀可以對(duì)大量金屬?gòu)U料進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)和快速分類(lèi)。可用于倉(cāng)庫(kù)積壓鋼材回收;廢品收購(gòu)站金屬分類(lèi);車(chē)削切屑或刨屑碎片等各個(gè)廢舊金屬回收利用環(huán)節(jié)。是廢舊金屬回收再利用行業(yè)中進(jìn)行金屬識(shí)別鋼材識(shí)別的有力工具。

用途
（1）適用于現(xiàn)場(chǎng)礦物類(lèi)、地質(zhì)類(lèi)（含土壤和沉積物）、金屬類(lèi)（含合金LE分析模式、焊縫及碎屑測(cè)試模式）、聚合物類(lèi)（含RoHS）無(wú)機(jī)元素的快速定性和定量分析；
（2）固體廢物中28種毒性元素和6種氧化物定量分析；
（3）稀土材料各元素含量分析；
（4）催化劑、金屬制品中貴金屬含量分析；
（5）土壤重金屬快速檢測(cè)；
（6）適用于固體、粉末、屑樣、液體、泥漿、薄膜等形態(tài)樣品的檢測(cè) 

檢測(cè)范圍：元素周期表Mg12—Pu94之間的元素
X射線管采用Ag或Rh陽(yáng)極靶，X射線輻射劑量≤0.06μSV/h；
最大功率：4W；最大激發(fā)電壓：50KV；最大激發(fā)電流：0.2mA

探測(cè)器類(lèi)型：探測(cè)器類(lèi)型：硅漂移探測(cè)器（SDD），探測(cè)器晶體面積：25mm2
冷卻方式：冷卻方式：具備恒溫冷卻系統(tǒng)，無(wú)需液氮；
分辨率：分辨率：低達(dá)125ev
準(zhǔn)直器和濾光片：準(zhǔn)直器和濾光片：12種組合
數(shù)據(jù)傳輸與處理：數(shù)據(jù)傳輸與處理： WIFI、藍(lán)牙、USB數(shù)據(jù)線、U盤(pán)等。
測(cè)試時(shí)間：測(cè)試時(shí)間：測(cè)試時(shí)間1-50秒可調(diào)
檢出限： 一）、金屬模式測(cè)試下，（1）鐵基體：Cr的檢測(cè)限≤40ppm，Mn的檢測(cè)限≤60ppm，Ni的檢測(cè)限≤40ppm，Cu的檢測(cè)限≤30ppm，V的檢測(cè)限≤50ppm。（2）銅基體：Zn的檢測(cè)限≤90ppm，Pb的檢測(cè)限≤20ppm。（3）鋁基體，Mg的檢出限≤4000ppm，Si的檢測(cè)限≤180ppm，F(xiàn)e的檢測(cè)限≤10ppm，Zn的檢測(cè)限≤10ppm，Mn的檢測(cè)限≤30ppm； 二）、地球化學(xué)模式下，Cl檢測(cè)限≤30ppm，V的檢測(cè)限≤20ppm，Cr的檢測(cè)限≤20ppm，Cu的檢測(cè)限≤4ppm，Ni的檢測(cè)限≤6ppm，Cd的檢測(cè)限≤4ppm，Hg的檢測(cè)限≤2ppm，Pb的檢測(cè)限≤2ppm，As檢出限≤1ppm
測(cè)試模式：包括但不限于金屬模式、貴金屬模式、地球化學(xué)模式、土壤模式、稀土模式、鍍層分析模式等。