八十年代初我國(guó)發(fā)布實(shí)施的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)一覽表

（合計(jì)22項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，包括總則和名詞術(shù)語(yǔ)）

GB2421—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　總則

GB2422—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　名詞術(shù)語(yǔ)

GB2423.1—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB2423.3—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.4—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法

GB2423.5—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ea：沖擊試驗(yàn)方法

GB2423.6—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Eb：碰撞試驗(yàn)方法

GB2423.7—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ec：傾跌與翻倒試驗(yàn)方法

GB2423.8—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ed：自由跌落試驗(yàn)方法

GB2423.10—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)方法

GB2423.15—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ga：恒加速度試驗(yàn)方法

GB2423.16—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法

GB2423.17—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法

GB2423.19—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法

GB2423.20—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)方法

GB2423.21—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法

GB2423.22—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB2423.24—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射試驗(yàn)方法

GB2423.25—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法

GB2423.26—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法

GB2423.27—81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法

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