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應(yīng)用頻譜分析儀對(duì)電子產(chǎn)品的電磁騷亂、電磁輻射準(zhǔn)確定位
應(yīng)用頻譜分析儀對(duì)電子產(chǎn)品的電磁騷亂、電磁輻射準(zhǔn)確定位
在電子產(chǎn)品研發(fā)階段，產(chǎn)品要符合EMC的標(biāo)準(zhǔn)，往往工程師都是在產(chǎn)品打樣后送專(zhuān)業(yè)的EMC專(zhuān)業(yè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行EMC的測(cè)試，合格產(chǎn)品獲得機(jī)構(gòu)的書(shū)面的認(rèn)證證書(shū)，但是往往產(chǎn)品在研發(fā)過(guò)程中因一個(gè)或多個(gè)頻點(diǎn)輻射超標(biāo)，不得已進(jìn)行多次的修改送檢，這樣往往既浪費(fèi)時(shí)間有浪費(fèi)金錢(qián)，影像產(chǎn)品的上市時(shí)間。
當(dāng)產(chǎn)品檢測(cè)不通過(guò)時(shí)，回來(lái)進(jìn)行修改后工程師又沒(méi)有設(shè)備可以測(cè)試判斷修改后的性能，在這情況下頻譜分析儀可以幫你解決這個(gè)簡(jiǎn)單的問(wèn)題。
我們這里簡(jiǎn)單是介紹一下使用頻譜分析儀GSP830進(jìn)行電磁騷亂的測(cè)試：
首先按照EMC的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)30MHz到1GHz的頻率范圍進(jìn)行掃描，找出輻射超標(biāo)的頻點(diǎn)或頻段（或是經(jīng)專(zhuān)業(yè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測(cè)后不通過(guò)的頻點(diǎn)或頻段）
然后對(duì)沒(méi)問(wèn)題頻點(diǎn)和頻段進(jìn)行頻譜儀的窄拼掃描（SPAN只針對(duì)問(wèn)題頻點(diǎn)頻段掃描，分辨率帶寬RBW盡量設(shè)?。业骄唧w的輻射頻點(diǎn)的頻率。
對(duì)問(wèn)題的頻點(diǎn)抓取后進(jìn)行分析，這個(gè)超標(biāo)的頻點(diǎn)信號(hào)的來(lái)源，信號(hào)過(guò)強(qiáng)的原因，對(duì)電路經(jīng)銷(xiāo)修改（增加磁珠、屏蔽、旁路電阻等減小頻點(diǎn)電路的電流等措施抑制輻射強(qiáng)度）。
頻譜分析儀GSP830還要配套的檢測(cè)探頭：
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