您能方便的在公制（微米、毫米）和英制（mils）單位之間切換．請仔細(xì)閱讀菜單安排，按照屏幕提示操作．特別需要提醒的是，在”微米”單位下當(dāng)讀數(shù)數(shù)值超過850微米時(shí)，單位將自動轉(zhuǎn)為”毫米”，這是由精度指標(biāo)決定的，請閱讀儀表指標(biāo)章節(jié)．

2.3.2.4總復(fù)位

總復(fù)位將擦除存儲器保存的所有數(shù)據(jù)，包括所有工作模式的讀數(shù)和設(shè)置

（恢復(fù)出廠默認(rèn)），還有它們的統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值和上下限報(bào)警值。但是此操作不會影響出廠基本校準(zhǔn)值，用戶可放心適用此功能。要進(jìn)行總復(fù)位操作，操作如下：

a關(guān)機(jī)

同時(shí)按z〔RO＋山鍵．

LCD將顯示”sure to reset”此時(shí)按紅色鍵確定進(jìn)行總復(fù)位，否則退出

按藍(lán)色鍵。儀表自動重新開機(jī)。

2.3.2.5背光

請看菜單安排章節(jié)，您可以通過菜單開關(guān)背光．此外，在正常測量模式

下，您可以按藍(lán)色按鍵一次以開關(guān)背光．

2.3.2.6LCD顯示統(tǒng)計(jì)設(shè)置

您可以通過菜單設(shè)置在工作模式下LcO顯示的統(tǒng)計(jì)選項(xiàng)（平均值、zui大

值、zui小值和標(biāo)準(zhǔn)方差），設(shè)置完成返回后，被設(shè)置的統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目將顯示

statisticview”菜單項(xiàng)，您可以遍覽當(dāng)下工作組所有統(tǒng)計(jì)值．

2.3.2.7讀數(shù)瀏覽

通過”Measurementview”菜單項(xiàng)，您可以瀏覽當(dāng)前工作組所有測量

讀數(shù)。

2.3.2.8自動關(guān)機(jī)

請仔細(xì)閱讀菜單安排章節(jié)，您可以通過菜單關(guān)閉和開啟自動關(guān)機(jī)功能．

3測量、存儲和數(shù)據(jù)處理

儀表提供兩種工作模式二直接模式和組工作模式，其中組工作模式包括

組1一組4共4組。

直接測量模式（DIR）用于快速隨意測量．在此模式下，測量數(shù)據(jù)會臨時(shí)

保存在內(nèi)存中，可以通過菜單瀏覽所有已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值，但一旦關(guān)機(jī)、

系統(tǒng)掉電或者從直接模式切換到組工作模式，這些數(shù)據(jù)將全部自動丟

失．此模式下讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值和統(tǒng)計(jì)數(shù)被同時(shí)顯示在LcO上．此模式下，

zui多將統(tǒng)計(jì)80個(gè)數(shù)據(jù)，一旦超出，讀數(shù)將替換zui舊讀數(shù)并保存更

新統(tǒng)計(jì)值．此模式下，可以單獨(dú)進(jìn)行一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)單獨(dú)設(shè)置高氏

界限報(bào)警。

組測量模式（GROI一4）二每一組工作模式下，系統(tǒng)可保存zui多80個(gè)數(shù)據(jù)、

5個(gè)統(tǒng)計(jì)值．一點(diǎn)二點(diǎn)校準(zhǔn)和高氏界限報(bào)警可以單獨(dú)設(shè)置和保存．

關(guān)徹湘掉電，所有保存值不會丟失，并且組與組之間相互獨(dú)立不受影

響。需要?jiǎng)h除保存的值，可以通過菜單操作進(jìn)行。當(dāng)測量數(shù)據(jù)超出80

個(gè)，數(shù)據(jù)測量可以繼續(xù)進(jìn)行，但是所得數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算，如

有需要，您可以通過菜單刪除組數(shù)據(jù)，請仔細(xì)參閱菜單安排章節(jié)。

請通過菜單選擇當(dāng)前工作組模式：DIR或GROI一4.

按山鍵同時(shí)探頭請遠(yuǎn)離倒可金屬scm以上，開機(jī)后，儀表默認(rèn)工作在

DIR模式下．LCO將佰封寺顯示zui近的測量讀數(shù)。

4校準(zhǔn)和測量

4.1校準(zhǔn)概述

4.1.1校準(zhǔn)方法

我們擁有四種校準(zhǔn)方法，敘述如下

基本校準(zhǔn)：適用于測量光滑物件表面涂層，或者測量物件的材料、面積

和曲葬和我們隨機(jī)附帶基體接近．

零點(diǎn)校準(zhǔn)二建議開始任間一項(xiàng)測量任務(wù)前都進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，測量中途出

現(xiàn)可疑誤差，也可隨時(shí)作歸零操作。

一點(diǎn)校準(zhǔn)二預(yù)先估計(jì)待測量涂層厚度，使校準(zhǔn)點(diǎn)盡量靠近待測厚度，可

以有效實(shí)現(xiàn)高精度測量。此校準(zhǔn)方法可以輕松地使測量誤差控制在

士（1％…3%)+1um/1.sum（傳感器自身系統(tǒng)誤差）

二點(diǎn)校準(zhǔn)二和一點(diǎn)校準(zhǔn)相可以盡量使待測涂層厚度范圍與兩點(diǎn)校準(zhǔn)點(diǎn)

接近，以更州蟹正待測范圍內(nèi)的誤差。該校準(zhǔn)用于粗糙表面涂層測量

和高精度的光滑涂層表面測量。

4.1.2校準(zhǔn)值保存

在伯日可模式下，您所完成的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)都自動保存，所有的測量創(chuàng)冬以zui

新的校準(zhǔn)為準(zhǔn)修正誤差。同時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)校準(zhǔn)值明顯有誤可以通過菜

單刪除組數(shù)據(jù)方式”Groupdata”恢復(fù)到出廠默認(rèn)．具體請參閱有關(guān)

章節(jié)。

提示：校準(zhǔn)讀數(shù)在以下情況，您必須重新校準(zhǔn)，否則可能測量有誤．

--明顯不正確的讀數(shù)

--校準(zhǔn)時(shí)儀表關(guān)機(jī)

4.1.3校準(zhǔn)實(shí)例

校準(zhǔn)是影響測量精度的關(guān)鍵因素．測量必須校準(zhǔn)，校準(zhǔn)樣本越接

近被測樣本，校準(zhǔn)和測量就越準(zhǔn)確。例如：如果被測樣本是一個(gè)直徑為

6mm的低碳鋼柱那么無涂層校準(zhǔn)樣本的直徑和材料也應(yīng)該盡量相同．

標(biāo)準(zhǔn)樣本必須在下列幾點(diǎn)上與被測樣本相符：

表面曲率半徑

基體材料

基體厚度

被測面積

標(biāo)準(zhǔn)樣本上，校準(zhǔn)點(diǎn)位置盡量與產(chǎn)品的測量點(diǎn)一致，尤其測量于小樣本

或邊角位置，此時(shí)用精密支架定位。

4.1.4高精度測量校準(zhǔn)

為得到高精度測量，校準(zhǔn)時(shí)，建議在每一點(diǎn)上做多次反復(fù)校準(zhǔn)，這樣儀器

會自動用其平均校準(zhǔn)值作為zui終校準(zhǔn)低詳見4.2這種方法在非平滑，

例如噴丸表面，非常實(shí)用。

4.1.5清潔測點(diǎn)

校準(zhǔn)前，測量和探頭頂部的油漬，金屬屑物等必須清除干凈，少量的雜質(zhì)

也會影響測量，改變讀數(shù)．

4.2校準(zhǔn)特別提示

對于大多數(shù)應(yīng)用場合，基本校準(zhǔn)（出廠默認(rèn)校準(zhǔn)），我們不建議做任間調(diào)整．

為了避免誤操作，本說明書省去了此章節(jié)，若用戶使用中，通過零點(diǎn)校準(zhǔn)，

一點(diǎn)校準(zhǔn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)，仍然不能解決問題，請致電售后服務(wù)，我們將為您

提供。

通過以下方法，您可以進(jìn)入一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)模式，根據(jù)屏幕提示，您可以

正確完成校準(zhǔn)：

首先，通過菜單選擇校準(zhǔn)模式（Menu一＞Calibration一＞〔nable),Lc劇各

會顯示”CaIn(0rl一2)Zeron(ory):"n”表示沒有川可點(diǎn)校準(zhǔn)（前者）

或沒有零校準(zhǔn)（后者）,"y”表示已進(jìn)行過零校準(zhǔn)（當(dāng)前測量是以此零點(diǎn)為

準(zhǔn)）。”Ca!1一2”表示有1到2個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)（1表示一點(diǎn)校準(zhǔn)，2表示兩點(diǎn)校準(zhǔn)）.

提示：零點(diǎn)校準(zhǔn)可以不用進(jìn)入此校準(zhǔn)模式，在測量模式，探頭置于待測無

涂層基體表面，得到測量值后提起，按住Z〔RO按鍵，聽到嘀一聲響后松

開便成功進(jìn)行一次歸零操作，如此反復(fù)操作可川導(dǎo)到一個(gè)零校準(zhǔn)平均值，

可有效防止零點(diǎn)校準(zhǔn)偶然誤差．

雖然在校準(zhǔn)模式同樣可以正確測量，但為避免誤校準(zhǔn)操作，完成校準(zhǔn)后，

我們建議通過MUN〔菜單相關(guān)設(shè)置退出校準(zhǔn)模式．進(jìn)入測量模式后，所

有數(shù)據(jù)測量都將以的零校準(zhǔn)、一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)為準(zhǔn)，對數(shù)據(jù)進(jìn)行修

正，顯示和保存修正后的數(shù)值．

校準(zhǔn)前的準(zhǔn)備工作：

開機(jī)遠(yuǎn)離州可金屬至少5厘米以上，遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場。

待測基體和必要的校準(zhǔn)箔片（可用隨機(jī)附帶的5種規(guī)格薄片）.

設(shè)置工作模式：通過菜單系統(tǒng)設(shè)置連續(xù)或單次測量模式。

4.2.1零點(diǎn)校準(zhǔn)（無剩到可校準(zhǔn)箔）

把探頭快速垂直地放在無涂層基體上．

LC顯示＜x.xum>，在連續(xù)方式和單一方式下測量方式稍有不同，在本

說明書之前已有介紹．正確得到數(shù)據(jù)后，迅速抬起探頭離開基體至少

5厘米以上。

然后，按住2ERO鍵約1.5秒，LC顯示0.0um，校準(zhǔn)完成．

可重復(fù)以上步驟幾次，校準(zhǔn)系統(tǒng)會自動計(jì)算和使用其平均值．

注意：

有時(shí)，在進(jìn)行零校準(zhǔn)之前，有必要通過菜單刪除舊的零校準(zhǔn)點(diǎn)（具體菜單

項(xiàng)，可參看前面章節(jié)）。因?yàn)椋覀兯玫牧阈?zhǔn)實(shí)際上是zui多5次零校

準(zhǔn)的平均值．按照以上步驟每完成一次，就保存一個(gè)零校準(zhǔn)值，當(dāng)超過

5次后，zui舊的值將被的替換，如此依次，系統(tǒng)自動將用zui近5次校

準(zhǔn)值計(jì)算平均得到實(shí)際零校準(zhǔn)值．試想，如果這些操作中，有一次大的

誤差操作，肯定對zui后平均值影響很大，如果做一次刪除操作，系統(tǒng)將所

有參數(shù)歸O，當(dāng)然就不存在這個(gè)問題了。另外，重新開關(guān)機(jī)也可得到和刪

除同樣的效果。

4.2.2一點(diǎn)校準(zhǔn)

此方法用于較高精度測量．

零點(diǎn)校準(zhǔn)請參見4.2.1.

將校準(zhǔn)箔片放在無涂層基體上，得到穩(wěn)定數(shù)據(jù)后提起探頭。按Up或者

OOWN調(diào)節(jié)顯示值至所測箔片厚度。

重復(fù)幾次以上步驟，校準(zhǔn)系統(tǒng)會計(jì)算平均值作為zui終校準(zhǔn)值．

使用校準(zhǔn)值試測量。

必要時(shí)需要?jiǎng)h除校準(zhǔn)例如輸入一個(gè)錯(cuò)誤的圈直時(shí)進(jìn)入M〔NU一＞delete

一＞delete group data．注意：這將會刪除所有測量存儲數(shù)據(jù)、上下限

報(bào)警數(shù)據(jù)，一點(diǎn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，但此操作不影響零點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)．刪除

所有數(shù)據(jù)后，出廠基本校準(zhǔn)可以保證一定誤差范圍內(nèi)的測量，用戶不必

擔(dān)心誤操作．若高精度測量，請重新做一點(diǎn)或二點(diǎn)校準(zhǔn)．

特別提示二

請仔細(xì)觀察屏幕，"CalxZerox”之前黑色方塊，每次按Up或者OOWN

鍵一次，它將重新開始計(jì)時(shí)，在305時(shí)間內(nèi)，你可以按一下藍(lán)色的按鍵取

消當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)．在此時(shí)間內(nèi)，對于當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)，儀器可以容納5次校準(zhǔn)值

并自動計(jì)算平均值作為zui終校準(zhǔn)值，當(dāng)滿5次后的校準(zhǔn)值會替換zui

舊的校準(zhǔn)值，此和零點(diǎn)校準(zhǔn)非常相似，可參考零點(diǎn)校準(zhǔn)．305后，對此點(diǎn)

的校準(zhǔn)將正式生效左邊黑色方塊自動消失，或者提前按ZERO一次，可

使當(dāng)前點(diǎn)校準(zhǔn)強(qiáng)制生效．即使長期進(jìn)行一系列的連續(xù)測試工作，校準(zhǔn)也

是有必要經(jīng)?？紤]的，它直接影響測量準(zhǔn)確性。

4.2.3兩點(diǎn)校準(zhǔn)

建議在單次測量方式下進(jìn)行，請通過菜單轉(zhuǎn)換工作方式．兩點(diǎn)校準(zhǔn)需要

使用2個(gè)不同的箔片．請粗略估測您實(shí)際工作需要測量的厚度范圍，此

范圍不宜過大，范圍越小，能獲得的測量精度越高．然后選擇兩點(diǎn)校準(zhǔn)

所需要的2個(gè)不同厚度標(biāo)準(zhǔn)箔片，此兩標(biāo)準(zhǔn)箔片厚度盡量靠近并包含實(shí)

際工作需要測量的厚度測量范圍。此方法尤其適用于非平滑，例如噴丸

表面或用于高地測量。校準(zhǔn)步驟如下：

零點(diǎn)校準(zhǔn)．參見4.2.1

一點(diǎn)校準(zhǔn)．參見4.2.2

重復(fù)步驟2。

使用校準(zhǔn)值試測量。

說明二二點(diǎn)校準(zhǔn)實(shí)際上就是兩次一點(diǎn)校準(zhǔn)。如果系統(tǒng)只存入了一點(diǎn)的校

準(zhǔn)值，則修正方式就是一點(diǎn)修正方式，若再次存入一點(diǎn)校準(zhǔn)，則修正方式

自動成為二點(diǎn)修正方式．zui后實(shí)際顯示和存儲的讀值則是基本校準(zhǔn)下

所得數(shù)據(jù)加零點(diǎn)修正、一點(diǎn)或者二點(diǎn)修正值，注意，一點(diǎn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)不

會同時(shí)存在。

4.2.4噴丸表面校準(zhǔn)方法

噴丸表面的物理性質(zhì)會導(dǎo)致讀數(shù)偏差，平均覆層厚度可用下面的方法確

定（統(tǒng)計(jì)程序在這里非常有用）二

方法一：

按照4.2.2或者4.2.3的方法校準(zhǔn)儀表．校準(zhǔn)基體選擇光滑且曲率半徑

和基體材料與待測試件相近．

在無覆層的經(jīng)過同樣噴丸處理的表面測量10次左右，得到一個(gè)平均值，

記作XO。

在有涂層的噴丸的被測樣本上測10次得到平均值Xm.

Xm與Xo的差（Xm一Xo）土S就是平均覆層厚度，其中S是Xm與XO兩者

標(biāo)準(zhǔn)方差中的較大者．

方法二：

無涂層噴丸基體上進(jìn)行多次零校準(zhǔn)。然后在無涂層的基體上，用一片

校準(zhǔn)箔做一點(diǎn)校準(zhǔn)。該箔片可由數(shù)片SOum的箔片組成箔厚盡量與

預(yù)計(jì)涂層厚度接近。

測量待噴丸涂層厚度此厚度應(yīng)為5一10個(gè)單次測量結(jié)果的平均值．統(tǒng)

計(jì)程序在這里非常有用．

方法三二

此種方法測量的結(jié)果也十分可靠．如4.2.3所述，只需使用兩個(gè)箔片，進(jìn)

行2點(diǎn)校準(zhǔn)。為了zui大程度地接近各自被測表面的性質(zhì)，箔片的厚度可

以通過使用多片每片厚度為50um的校準(zhǔn)箔片疊加得到。厚度測量結(jié)

果應(yīng)為5一10個(gè)單次測量結(jié)果的平均值。

注意：對于大于30Oum的涂層，粗糙程度的影響并不十分重要且沒有必

要使用上述校準(zhǔn)方法．

4.3測量中的計(jì)算方法

仔細(xì)校準(zhǔn)以后，所有測量偏差將會在洲門承諾的誤差范圍之內(nèi)。發(fā)電機(jī)

等大功率電器設(shè)備附近的強(qiáng)磁場會影響讀數(shù)，建議盡量遠(yuǎn)離。當(dāng)使用統(tǒng)

計(jì)程序獲取平均值的時(shí)候建議將探頭放置于具有典型意義的測點(diǎn)上連

續(xù)測量多次?？赏ㄟ^菜單系統(tǒng)刪除任何錯(cuò)誤或者不符讀數(shù)。zui終的讀

數(shù)由統(tǒng)計(jì)程序和翻門承諾的測量誤差范圍共同決定，如下所述．

涂層厚度D=X±s±u

例如

讀數(shù)

讀數(shù)：150um,156um,153um

平均值：X=153um

標(biāo)準(zhǔn)偏差 S＝士3Um

測量偏差 u＝土（3%ofreading+lum)

D=153士3±(4.59um+lum)

=153土8.59um

5上下限報(bào)警功能

無論在直接（DIR）工作方式，還是在組工作方式（GRO)，數(shù)據(jù)測量的州可

時(shí)候，您可以進(jìn)入MUNE菜單設(shè)置上下限（具體請看菜單章節(jié)），一旦設(shè)

置成功，測量數(shù)據(jù)超出此限范圍的時(shí)候，屏幕拱并良警提示：

H：讀數(shù)超過zui高限額

L：讀數(shù)超過zui低限額

6測量中的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

厚度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)zui多可統(tǒng)計(jì)80個(gè)讀數(shù)（GROI~GRO4：總共zui多可儲存

4x80=320個(gè)讀數(shù)）．此外，在DIR模式除了讀數(shù)不存儲外，其化湘GRO

模式相同。

NO：二開機(jī)以來進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的讀數(shù)個(gè)數(shù)

AVG：平均值

Sdev：標(biāo)準(zhǔn)方差

MAX：zui大讀數(shù)

MIN：zui小讀數(shù)

6.1統(tǒng)計(jì)條例

平均值（X)

讀數(shù)之和除以讀數(shù)的個(gè)數(shù)X＝X/n

標(biāo)準(zhǔn)方差（Sdev.)

標(biāo)準(zhǔn)方差表征讀數(shù)的分散度．讀數(shù)越分散標(biāo)準(zhǔn)方差就越大，標(biāo)準(zhǔn)方差

是方差S2的平方根．

偏差S2=E(X-x）/(n-1）

標(biāo)準(zhǔn)偏差S=S2開平方

注意：當(dāng)出現(xiàn)異?；虿淮_定測量值時(shí)應(yīng)馬上刪除，請查看M〔NU中的刪

除功能。

6.2存儲益處

在組測量模下，如果超出存儲能力（80個(gè)數(shù)據(jù)存儲），測量仍可繼續(xù)進(jìn)行，

但所有數(shù)據(jù)不計(jì)入統(tǒng)計(jì)．在單次測量方式下，如果存儲器已滿，LcO顯

示屏上會顯示”「ULL”字樣。

直接測量模式下，如果存儲器已滿，數(shù)據(jù)會自動代替zui舊的數(shù)據(jù)，統(tǒng)

計(jì)值仍繼續(xù)更新。

刪除功能

刪除zui后一個(gè)讀數(shù)：如果你發(fā)現(xiàn)測試結(jié)果不正確，你可以通過此功能刪

除zui后一個(gè)讀數(shù)。同時(shí)，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)會自動更新。

刪除所有數(shù)據(jù)二你可以刪除當(dāng)前工作模式下的所有統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

全部刪除二這一功能會刪除該組所有測量值、統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值、上下限

報(bào)警設(shè)置值。

以上功能，具體操作，請參看菜單章節(jié)．

傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)

所有工作模式下的測量數(shù)據(jù)都可以通過USB口下載到電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)分

析，詳情請查看配套軟件相關(guān)指南。

注意：建議在儀器與電腦連接時(shí)不做州可測量。

故障排除

下面的故障符號可提示如何去識別和排除故障。

Errl：渦流探頭有異常

Err2：磁感應(yīng)探頭有異常

Err3：兩探頭均有異常

Err4,5,6：保留未使用

Err7：二厚度測量結(jié)果錯(cuò)誤

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CEM華盛昌DT-156涂層測厚儀使用說明書

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