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北京中科環(huán)試儀器有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第15年

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高低溫試驗(yàn)箱
交變高低溫試驗(yàn)箱
高低溫濕熱試驗(yàn)箱
交變高低溫濕熱試驗(yàn)箱
經(jīng)濟(jì)型恒溫恒濕箱
熱劇變/冰水沖擊試驗(yàn)箱
臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱
低溫恒溫箱/低溫儲(chǔ)存箱
低溫培養(yǎng)箱/低溫恒溫箱
低溫恒定濕熱試驗(yàn)箱
高低溫(冷熱)沖擊試驗(yàn)箱
紫外光老化試驗(yàn)箱
氙燈老化試驗(yàn)箱/氙弧燈耐候試驗(yàn)箱
臭氧老化試驗(yàn)箱
換氣老化試驗(yàn)箱/熱空氣老化箱
交變霉菌試驗(yàn)箱
防銹油脂試驗(yàn)箱
二氧化硫(硫化氫)試驗(yàn)箱
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
IP防護(hù)等級(jí)淋雨防水試驗(yàn)設(shè)備
IP1X-6X防塵試驗(yàn)設(shè)備
冷凝水氣候試驗(yàn)箱
400℃、500℃高溫干燥箱
臺(tái)式電熱鼓風(fēng)干燥箱
立式電熱鼓風(fēng)干燥箱
精密干燥箱(液晶屏)
真空干燥箱
培養(yǎng)箱系列產(chǎn)品
熱空氣消毒箱
種子老化箱/種子發(fā)芽箱
電子防潮柜
紫外燈管/氙弧燈管
振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)/振動(dòng)臺(tái)
大型步入式試驗(yàn)室
冰水沖擊試驗(yàn)箱
精密恒溫試驗(yàn)箱
低溫脆性試驗(yàn)機(jī)
跌落試驗(yàn)機(jī)

交變霉菌試驗(yàn)箱產(chǎn)品概述

時(shí)間:2011/7/28閱讀:4251
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霉菌試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介

概 述

     真菌在土壤中及各種材料上生長(zhǎng),產(chǎn)生孢子而傳播。孢子脫離母體發(fā)芽而進(jìn)一步生長(zhǎng),因此孢子極小,容易隨流動(dòng)的空氣傳播,一旦生長(zhǎng)環(huán)境條件適宜,即形成為污染,對(duì)設(shè)備的性能產(chǎn)生影響。溫度和濕度是霉菌生長(zhǎng)的基本條件,而水分是孢子發(fā)芽的必要條件,物體表面上存在有灰塵或其他親水性物質(zhì),可以從大氣中吸收足夠的水分和營(yíng)養(yǎng),以供孢子發(fā)芽生長(zhǎng)。大量試驗(yàn)證明,造成設(shè)備損壞的大多數(shù)霉菌,發(fā)芽zui適宜溫度在20℃—30℃之間,相對(duì)濕度低于65%時(shí),孢子就不會(huì)發(fā)芽生長(zhǎng);大于此值時(shí),濕度越大,生長(zhǎng)越快。長(zhǎng)霉對(duì)產(chǎn)品的影響主要有以下三個(gè)方面:原發(fā)性影響:霉菌即使對(duì)材料只發(fā)生輕微的損害,絕緣材料表面由于濕潤(rùn)的菌絲層形成導(dǎo)電通路而大幅度降低絕緣電阻,嚴(yán)重地會(huì)引起電路頻率和阻抗特性發(fā)生重大的變化。材料一旦受到霉菌侵蝕會(huì)導(dǎo)致機(jī)械強(qiáng)度下降和其他物理性能的變化。繼發(fā)性影響:霉菌在材料上生長(zhǎng),能夠產(chǎn)生有機(jī)酸和其他電解質(zhì)等代謝產(chǎn)物,而對(duì)材料產(chǎn)生繼發(fā)性影響。這種侵蝕會(huì)導(dǎo)致材料電解和老化。又因菌絲體具有吸水作用,形成了飽和的海綿層,即使外界濕度很低,菌絲體仍能在試驗(yàn)體內(nèi)維持高濕狀態(tài),導(dǎo)致元件受潮損壞。長(zhǎng)霉即有損新產(chǎn)品外觀,又伴有難聞的霉味。關(guān)聯(lián)性影響:由于現(xiàn)代化設(shè)備的微型結(jié)構(gòu)和相互聯(lián)結(jié),設(shè)備的一處長(zhǎng)霉可能會(huì)對(duì)不允許長(zhǎng)霉的其他元件和微型件產(chǎn)生影響。因此,當(dāng)考慮對(duì)單一分組件或元件的直接或間接影響時(shí),必須對(duì)整機(jī)性能可能產(chǎn)生的影響給予評(píng)定。長(zhǎng)霉試驗(yàn)通常限于檢驗(yàn)是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧稀Mㄟ^(guò)材料元件、零部件或小的組合件等試驗(yàn),很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù);
    長(zhǎng)霉試驗(yàn)是對(duì)試驗(yàn)新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長(zhǎng)條件下所作的zui后檢測(cè)。通過(guò)試驗(yàn)可以檢測(cè)出具有良好設(shè)計(jì)性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。綜上所述,長(zhǎng)霉(霉菌)試驗(yàn)是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長(zhǎng)的氣候條件下的長(zhǎng)霉程度和由于長(zhǎng)霉引起的表面變化和性能影響。交變霉菌試驗(yàn)箱是讓試驗(yàn)樣品在一個(gè)理想的,適宜霉菌孢子快速生長(zhǎng)的氣候環(huán)境中,人為考核試驗(yàn)樣品及其結(jié)構(gòu)材料的抗霉性能,及長(zhǎng)霉對(duì)試驗(yàn)樣品電氣、機(jī)械性能影響的試驗(yàn)設(shè)備。
      公司按照《GB10588—89;長(zhǎng)霉試驗(yàn)箱的技術(shù)條件》及其它相關(guān)環(huán)試標(biāo)準(zhǔn)中的要求(例如:試驗(yàn)方法中規(guī)定的有關(guān)試驗(yàn)箱*的技術(shù)條件等),結(jié)合自身的技術(shù)特點(diǎn)、設(shè)計(jì)制造的夾套式“交變霉菌試驗(yàn)箱”符合上述標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,達(dá)到國(guó)標(biāo)及國(guó)軍標(biāo)的要求,能夠按照《電工電子產(chǎn)品方法:GB2423.16—90試驗(yàn)J—長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法》和《GJB150.10—86,軍用設(shè)備霉菌試驗(yàn)》、《GJB4.10-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)》進(jìn)行長(zhǎng)霉試驗(yàn)。 
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
1.     GB2423.16—90試驗(yàn)J—長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法
2.     GJB150.10—86,軍用設(shè)備霉菌試驗(yàn)
3.     GJB4.10-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)霉菌試驗(yàn)
4.     GB—2002長(zhǎng)霉試驗(yàn) GB2002濕熱試驗(yàn)

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