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商鋪：http://www.syzwkj.com/st178044/
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供求商機
SUNX神視晶片定位傳感器 M-DW1
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點擊：
- 2024年11月1日
- 2025年5月1日
- 上海上海市
- 日本
- 184次
【產(chǎn)品簡介】
【詳細說明】
SUNX神視晶片定位傳感器 M-DW1
SUNX神視晶片定位傳感器 M-DW1特點：可檢測涂氮晶片！
可檢測涂氮晶片
· 激光定位傳感器具有危險，由于當從內(nèi)部負載孔定位時，激光光軸未達到FOUP直接射向操作員。使用LED光源的M-DW1比原先的激光光軸定位傳感器更安全。
· 涂氮晶片根據(jù)涂層厚度以一定波長吸收光線。如果傳感器使用具有單個波長的傳感器，光軸可能被*吸收，導致晶片檢測錯誤。M-DW1使用的LED光源的波長帶比較寬，所以可始終成功地檢測涂氮晶片。
· 根據(jù)反射光線的數(shù)量進行的晶片檢測可能有時會由于晶片邊緣的形狀而發(fā)生錯誤。M-DW1在受光部分使用2個分隔的受光二極體，通過反射光線的位置而不是數(shù)量檢測晶片。因此，傳感器受晶片厚度或反射光線數(shù)量的影響較小。
晶片定位檢測
 | ·中心測量距離：45mm ·電源電壓：12～24V DC±10% ·檢測物體：3英寸以上半導體晶片 ·輸出： NPN開路集電極晶體管（zui大100mA）或PNP開路集電極晶體管（zui大100mA）通過切換開關選擇 |