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僅供科研

EPOCH LTC*聲波探傷儀產(chǎn)品特點：

密封外殼，符合IP67要求，可在惡劣環(huán)境下使用

符合EN12668-1標(biāo)準(zhǔn)

重量輕，僅為0.96 公斤(2.12 磅)

全VGA多色彩穿透反射式顯示功能

USB(OTG)端口，用于與計算機(jī)通訊以及直接打印

袖珍SD存儲卡以及具有標(biāo)準(zhǔn)字母數(shù)字式數(shù)據(jù)電子自動記錄器的機(jī)載存儲器

標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)DAC/TVG曲線功能

具有數(shù)字濾波器的數(shù)字高動態(tài)范圍接收器

帶有調(diào)節(jié)選項的高性能方波脈沖發(fā)生器

EPOCH LTC*聲波探傷儀技術(shù)參數(shù)：

EPOCH LTC*聲波探傷儀
基本規(guī)格
符合	EN12668-1 標(biāo)準(zhǔn)
重量	0.96 公斤 (2.12 磅)，帶鋰離子電池
尺寸	(高 x 寬 x 厚) 223.3 毫米 x 128.9 毫米 x 55.1 毫米 (8.79英寸 x 5.07英寸 x 2.17 英寸)
鍵盤	英文、、日語或中文
語言	英文、西班牙語、法語、德語、意大利語、日語、中文、俄語、挪威語、瑞典語
傳感器連接	LEMO 00
電池	充電鋰離子電池。標(biāo)準(zhǔn)AA電池包
電池工作時間	- 鋰離子電池：8 小時到 9 小時
	- AA 鋰離子電池：3 小時到 4 小時
電源要求	交流主電源：100 - 120 VAC、200 - 240 VAC、50 - 60 Hz
環(huán)境評級
符合 IP67 環(huán)境侵入保護(hù)評級
可在美軍標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-810F 程序1和國家防火協(xié)會規(guī)范NFPA 70E 500節(jié) 1級 2分段 D組中規(guī)定的爆炸氣體環(huán)境中應(yīng)用。
通過了IEC 60068-2-27，60 g，6 ms H.S.的防震測試，3軸，共18軸。
通過了IEC 60068-2-6的振動(正弦振動)測試，0.03英寸DA為50 Hz 到150 Hz，或者2 g，20掃查周期。
顯示
彩色穿透反射式液晶顯示	60 Hz 刷新率，用戶可選擇不同色彩主題和亮度，兩個分屏模式和一個全屏模式。
顯示器尺寸	640 像素 (寬) x 480 像素 (高); 75 毫米 (2.95英寸) 寬 x 56 毫米 (2.21英寸) 高 x 94 毫米 (3.7英寸) 對角線
波幅柵格模式	100% 或 110% 波幅顯示
時基柵格模式	標(biāo)準(zhǔn)格式為 0 到 10 格，聲程模式將聲程范圍分成5個相等的柵格?？缍饶Ｊ揭詵鸥窬€來表示聲程跨距。
脈沖發(fā)生器
方波脈沖發(fā)生器	寬度固定的方波脈沖發(fā)生器可有效地用于一般缺陷探測應(yīng)用。
脈沖寬度	主體儀器中寬度固定。使用EPLTC-SWP選項，從25 ns 到 5,000 ns (0.1 MHz)可調(diào)。
脈沖重復(fù)頻率 (PRF)	由儀器軟件自動控制，范圍從 10 Hz 到 500 Hz。
測量速率	10 Hz 到 500 Hz。永遠(yuǎn)與PRF相等。
激發(fā)能量設(shè)置	100 伏到 400 伏，100伏增量
阻尼	50，100，200，400 歐姆
接收器
增益	0 dB 到 110 dB - 位于功能鍵之上的兩個用戶定義的增益增量的調(diào)整和預(yù)置。
儀器總帶寬	0.2 MHz 到 26.5 MHz，在 -3 dB處
數(shù)字濾波器設(shè)置	標(biāo)準(zhǔn)：0.2 MHz到 10.0 MHz 寬帶：2.0 MHz到 21.5 MHz 高通：8.0 MHz到 26.5 MHz
檢波	全波、正半波、負(fù)半波、射頻
系統(tǒng)線性	水平：+/- 0.5% FSW垂直：0.25% FSH，放大器精度：+/- 1 dB
抑制	0% 到 80% 滿屏高，帶可視警告
校準(zhǔn)
速度和零偏移的自動距離校準(zhǔn)
檢測模式	脈沖回波、雙晶或穿透
單位	毫米、英寸或微秒
范圍	主體儀器：4 毫米到 5,000 毫米 (0.144 英寸到200英寸)
延長范圍選項 (PN: EPLTC-RANGE)	延長范圍選項 (PN: EPLTC-RANGE)：4 毫米到 10,000 毫米 (0.144 英寸到400英寸)
速度	635到 15240 米/秒 (0.025到0.6000英寸/微秒)
零偏移	0到750 微秒
顯示延遲	-59毫米到較為大范圍 (-2.323英寸到較為大范圍)
折射角度	10° 到 85°，分辨率為 0.1°
測量
類型	厚度、聲程、投影、深度、波幅、閘門1的傳播時間
閘門2選項 (PN: EPLTC-GATE2)	可進(jìn)行不依據(jù)閘門2測量和閘門2報警的回波-回波測量。
四個測量顯示位置	用戶可以從任何一個閘門選擇多達(dá)四個測量值實時顯示在屏幕上。
動態(tài) DAC/TVG 標(biāo)準(zhǔn)	帶有多達(dá)6條報警曲線的ASME、ASME III、JIS、CUSTOM DAC。可進(jìn)行曲線增益的動態(tài)調(diào)整，動態(tài)范圍 110 dB，斜率100 dB/μs，捕捉點數(shù)多達(dá)50個。
波幅測量	0% 到 110%滿屏高
X-值校正	從表面距離測量值中減去聲束出射點到探頭前沿的距離。
閘門 1	測量回波高度和傳播時間。
閘門起點	在整個顯示范圍內(nèi)可變。
閘門寬度	在閘門起點到顯示終點的范圍內(nèi)可變。
閘門高度	在2%到95%滿屏高的范圍內(nèi)可變。
報警	正、負(fù)閾值；較為小深度
縮放	顯示范圍為閘門1的寬度。
輸入/輸出
USB	用于與PC機(jī)通訊、打印以及使用USB驅(qū)動器進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲的USB OTG端口
VGA 輸出端口	用于與PC機(jī)顯示器和/或投影儀連接
袖珍 SD	用于數(shù)據(jù)存儲的插卡孔

*聲波探傷儀的十問十答

一、什么是無損探傷？

無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對被檢驗部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測試手段。

二、常用的探傷方法有哪些？

常用的無損探傷方法有：X光射線探傷、*聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。

三、試述磁粉探傷的原理？

它的基本原理是：當(dāng)工件磁化時，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。

四、試述磁粉探傷的種類？

1、按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復(fù)合磁化法和旋轉(zhuǎn)磁化法。

2、按采用磁化電流的不同可分為：直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。

3、按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法。

五、磁粉探傷的缺陷有哪些？

磁粉探傷設(shè)備簡單、操作容易、檢驗迅速、具有較高的探傷靈敏度，可用來發(fā)現(xiàn)鐵磁材料鎳、鈷及其合金、碳素鋼及某些合金鋼的表面或近表面的缺陷；它適于薄壁件或焊縫表面裂紋的檢驗，也能顯露出一定深度和大小的未焊透缺陷；但難于發(fā)現(xiàn)氣孔、夾碴及隱藏在焊縫深處的缺陷。

六、缺陷磁痕可分為幾類？

1、各種工藝性質(zhì)缺陷的磁痕；

2、材料夾渣帶來的發(fā)紋磁痕；

3、夾渣、氣孔帶來的點狀磁痕。

七、試述產(chǎn)生漏磁的原因？

由于鐵磁性材料的磁率遠(yuǎn)大于非鐵磁材料的導(dǎo)磁率，根據(jù)工件被磁化后的磁通密度B＝μH來分析，在工件的單位面積上穿過B根磁線，而在缺陷區(qū)域的單位面積上不能容許B根磁力線通過，就迫使一部分磁力線擠到缺陷下面的材料里，其它磁力線不得不被迫逸出工件表面以外出形成漏磁，磁粉將被這樣所引起的漏磁所吸引。

八、試述產(chǎn)生漏磁的影響因素？

1、缺陷的磁導(dǎo)率：缺陷的磁導(dǎo)率越小、則漏磁越強(qiáng)。

2、磁化磁場強(qiáng)度（磁化力）大?。捍呕υ酱蟆⒙┐旁綇?qiáng)。

3、被檢工件的形狀和尺寸、缺陷的形狀大小、埋藏深度等：當(dāng)其他條件相同時，埋藏在表面下深度相同的氣孔產(chǎn)生的漏磁要比橫向裂紋所產(chǎn)生的漏磁要小。

九、某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁？

某些轉(zhuǎn)動部件的剩磁將會吸引鐵屑而使部件在轉(zhuǎn)動中產(chǎn)生摩擦損壞，如軸類軸承等。某些零件的剩磁將會使附近的儀表指示失常。因此某些零件在磁粉探傷后為什么要退磁處理。

十、*聲波探傷的基本原理是什么？

*聲波探傷是利用*聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時，在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法，當(dāng)*聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件底面時就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

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