用途
（1）適用于現(xiàn)場(chǎng)礦物類、地質(zhì)類（含土壤和沉積物）、金屬類（含合金LE分析模式、焊縫及碎屑測(cè)試模式）、聚合物類（含RoHS）無(wú)機(jī)元素的快速定性和定量分析；
（2）固體廢物中28種毒性元素和6種氧化物定量分析；
（3）稀土材料各元素含量分析；
（4）催化劑、金屬制品中貴金屬含量分析；
（5）土壤重金屬快速檢測(cè)；
（6）適用于固體、粉末、屑樣、液體、泥漿、薄膜等形態(tài)樣品的檢測(cè) 檢測(cè)范圍：元素周期表Mg12—Pu94之間的元素
X射線管采用Ag或Rh陽(yáng)極靶，X射線輻射劑量≤0.06μSV/h；
最大功率：4W；最大激發(fā)電壓：50KV；最大激發(fā)電流：0.2mA

探測(cè)器類型：探測(cè)器類型：硅漂移探測(cè)器（SDD），探測(cè)器晶體面積：25mm2
冷卻方式：冷卻方式：具備恒溫冷卻系統(tǒng)，無(wú)需液氮；
分辨率：分辨率：達(dá)125ev
準(zhǔn)直器和濾光片：準(zhǔn)直器和濾光片：12種組合
數(shù)據(jù)傳輸與處理：數(shù)據(jù)傳輸與處理： WIFI、藍(lán)牙、USB數(shù)據(jù)線、U盤(pán)等。
測(cè)試時(shí)間：測(cè)試時(shí)間：測(cè)試時(shí)間1-50秒可調(diào)
檢出限： 一）、金屬模式測(cè)試下，（1）鐵基體：Cr的檢測(cè)限≤40ppm，Mn的檢測(cè)限≤60ppm，Ni的檢測(cè)限≤40ppm，Cu的檢測(cè)限≤30ppm，V的檢測(cè)限≤50ppm。（2）銅基體：Zn的檢測(cè)限≤90ppm，Pb的檢測(cè)限≤20ppm。（3）鋁基體，Mg的檢出限≤4000ppm，Si的檢測(cè)限≤180ppm，F(xiàn)e的檢測(cè)限≤10ppm，Zn的檢測(cè)限≤10ppm，Mn的檢測(cè)限≤30ppm； 二）、地球化學(xué)模式下，Cl檢測(cè)限≤30ppm，V的檢測(cè)限≤20ppm，Cr的檢測(cè)限≤20ppm，Cu的檢測(cè)限≤4ppm，Ni的檢測(cè)限≤6ppm，Cd的檢測(cè)限≤4ppm，Hg的檢測(cè)限≤2ppm，Pb的檢測(cè)限≤2ppm，As檢出限≤1ppm
測(cè)試模式：包括但不限于金屬模式、貴金屬模式、地球化學(xué)模式、土壤模式、稀土模式、鍍層分析模式等。