國產(chǎn)EDX3600Kxrf光譜儀儀器配置：
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增強系統(tǒng)
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
真空腔體
自動穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
較良好的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

國產(chǎn)EDX3600Kxrf光譜儀技術(shù)參數(shù)：

型號：EDX3600K xrf光譜儀
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器較低至125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準(zhǔn)直器和濾光片：四組準(zhǔn)直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數(shù)元素來說，較低檢出限達5～500ppm
真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計數(shù)率
測試臺：360°電動旋轉(zhuǎn)式
保護系統(tǒng)：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設(shè)計，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動
數(shù)字多道技術(shù)：計數(shù)率>50kcps，有效計數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃