環(huán)保無鉛ROHS分析儀技術(shù)參數(shù)

環(huán)保無鉛分析儀元素分析范圍：硫（S）— 鈾（U）

分析檢出限：達(dá)1ppm

分析含量：為1ppm到99.99％

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

溫度適應(yīng)范圍：15℃—30℃

電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率：160±5eV

外觀尺寸： 550×416×333mm

樣品腔尺寸：460×298×98mm

重量：45Kg

環(huán)保無鉛ROHS分析儀應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測(cè)分析

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析

金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)

工作原理

X射線光譜儀（環(huán)保無鉛分析儀）通?？煞譃閮纱箢?，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子和控制部件，相對(duì)簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長：

nλ=2dsinaθ  （n=1,2,3…）式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。