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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> HCSGW X-4-顯微熔點(diǎn)儀（數(shù)顯）HCSGW X-4
| 詳細(xì)說明： | 測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺(tái)法）測(cè)定。 性能指標(biāo) 熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃ 測(cè)量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)） 光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X；物境4X
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| 是否已審核： | 是 |
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