當(dāng)前位置:賽默飛測量控制與材料鑒別>>技術(shù)文章>>X射線衍射儀的原理和應(yīng)用范圍
X射線衍射儀的原理和應(yīng)用范圍
X射線衍射儀是一種常用的檢測儀器,利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感光、氣體電離,測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,的進行物相分析,定性分析,定量分析。
X射線衍射儀的原理:
x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果,便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。
對于晶體材料,當(dāng)待測晶體與入射束呈不同角度時,那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來,體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料,由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序,只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
X射線衍射儀應(yīng)用范圍:
工業(yè)用X射線衍射儀在當(dāng)今科技領(lǐng)域里用來分析各種物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)的測試儀器已得到了廣泛的應(yīng)用。對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說,X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析,大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析;晶體物質(zhì)晶粒大小的計算;晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。
X射線衍射儀使用范圍:
金屬材料:半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料;無機材料:陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃;復(fù)合材料:碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物;有機材料:醫(yī)藥品、工程塑料、各種樹脂等。