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干涉顯微鏡是用來(lái)測(cè)量精密加工零件表面(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器。也可以用來(lái)測(cè)量零件表面刻線(xiàn)、刻槽鍍層(透明)等深度。
測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種,它的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,適用范圍極廣.總放大倍數(shù):倍率:20×、100×
測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種,它的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,適用范圍極廣.總放大倍數(shù):倍率:20×、100×
本儀器是以光切法測(cè)量另件加工表面的微觀不平度。其能判別GB1031~68所規(guī)定▽3?-▽9級(jí)表面光潔度。
測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種,它的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,操作方便,適用范圍極廣.總放大倍數(shù):倍率:20×、100×
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