美國SEI 高性能地物光譜儀光譜法研究森林冠層主要包括測量樹冠的健康指標、樹冠結(jié)構(gòu)和養(yǎng)分濃度、識別不同的植物物種、氮循環(huán)和冠層的光合能力、草本植物和苔蘚的研究、環(huán)境保護葉形態(tài)、分布、葉子生長取向以及森林的樹冠含水率和森林火災的風險等。

美國SEI 高性能地物光譜儀

國內(nèi)專業(yè)的高光譜遙感設備供應商

高性能地物光譜儀
高光譜成像光譜儀
機載高光譜成像儀

SEI系列光譜儀產(chǎn)品特色：

• 高分辨率
• 低噪聲
• 便攜，使用靈活
• 測量快捷，鍵自動
• 波段范圍寬,適用域廣
• NIST可溯源
• 更穩(wěn)定，可靠性好

SEI系列產(chǎn)品——PSR+：

• 便攜(3.3kg)
• 高分辨率/低噪聲
• 使用方式靈活
• 面板操作
• 自動暗電流
• 自動積分時間
• 自動存儲

系統(tǒng)組成：PSR+（350~2500nm）地物高光譜儀、八旋翼無人機、地面控制系統(tǒng)、光纖增穩(wěn)云臺、同步影像系統(tǒng)等

PSR+T8機載地物光譜測量系統(tǒng)：

高分辨率/低噪聲
高性能旋翼無人機
光纖云臺姿態(tài)矯正
飛控觸發(fā)數(shù)據(jù)采集
地物影像同步存儲
GPS坐標同步獲取
航線/航點多種模式

美國SEI 高性能地物光譜儀

SR3500主要參數(shù): 
 350-2500nm
2151通道
 3nm@700nm
8nm@1500nm
6nm@2100nm

SR3501主要參數(shù):
280-2500nm
2221通道
  4 nm(280-1000nm)
9.5 nm@1500nm
7 nm@2100nm

SEI產(chǎn)品應用——礦物研究：

     高光譜可以對礦物亞類的識別、礦物組成成分探測、礦物豐度信息提取等礦物微觀信息的探測。研究礦物光譜的精細特征與礦物微觀信息之間的關系，不僅可以增加礦物識別的種類，還將直接反演地質(zhì)成生環(huán)境。

 高嶺石反射率 (紫色線), 伊利石粉 (綠色線), 蒙脫土 (紅色線) and SRM-1920 (青色線)