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本試驗(yàn)室能夠按照IEC、MIL、JEDEC、GR、ISO、GB、GJB等各種標(biāo)準(zhǔn)或用戶要求進(jìn)行高溫老化、高溫、低溫、溫度沖擊、溫度循環(huán)、低氣壓、高低溫低氣壓、恒定濕熱、交變濕熱、HAST、砂塵、鹽霧腐蝕、流動(dòng)氣體腐蝕、霉菌、集成電路ESD、產(chǎn)品EMC等試驗(yàn)。

可靠性與環(huán)境試室產(chǎn)品故障分析流程：

        ?試驗(yàn)室嚴(yán)格執(zhí)行FRACAS流程。產(chǎn)品在可靠性試驗(yàn)過(guò)程中出現(xiàn)故障或失效時(shí)，我們會(huì)根據(jù)產(chǎn)品所

經(jīng)歷的環(huán)境條件，給出故障定位，并對(duì)故障樣品進(jìn)行故障或失效分析，從而給出產(chǎn)品糾正措施建議。我們

在故障分析過(guò)程中，會(huì)根據(jù)產(chǎn)品具體故障現(xiàn)象追溯到產(chǎn)品設(shè)計(jì)、原材料、工藝制造等產(chǎn)品生命周期的各個(gè)環(huán)節(jié)上，并給出客戶具體有效的改進(jìn)建議。