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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 分散方式 | 干濕法分散 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 顆粒圖像分析儀 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,制藥 |
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer
——中國粒度檢測與分析技術(shù)的前沿之作
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer是珠海歐美克儀器有限公司經(jīng)過多年的技術(shù)積累后并引進先進技術(shù)研發(fā)出的一款高性能激光粒度分析儀。它具有量程寬、重復(fù)性好、精度高、測試結(jié)果真實、自動化程度高等諸多優(yōu)點,真正站在了當前粒度檢測領(lǐng)域的前沿,代表了中國粒度檢測與分析技術(shù)的新高度,是廣受客戶贊譽的國產(chǎn)高性能干濕法激光粒度儀。
一、用途:
既可測量須在液體中分散的樣品,也可測量須在氣體中分散的粉體材料。
二、工作原理:
利用顆粒對光的散射現(xiàn)象,根據(jù)散射光能的分布推算被測顆粒的粒度分布。通過對光學、機械、電子、計算機等系統(tǒng)的整合和優(yōu)化,使歐美克激光粒度儀具備重現(xiàn)性良好、分辨能力高、動態(tài)測量范圍寬廣、操作簡單方便等優(yōu)點。
三、先進的光學系統(tǒng)
雙光源技術(shù)
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer采用紅藍雙光源設(shè)計,紅光主光源為進口氦-氖激光器,波長0.6328μm,并有藍光輔助半導體光源,波長0.466μm,彌補了常規(guī)設(shè)計散射光角度的盲區(qū),極大地提高了對納米級顆粒及少量大顆粒的分辨力。
穩(wěn)定的激光光源
進口主光源預(yù)熱時間短,輸出單模偏振激光偏振比達500:1以上,光束中TEM00模占比達95%以上,且激光功率始終穩(wěn)定,功率波動小于0.5%,使得儀器的背景很低而且穩(wěn)定,大大提高了系統(tǒng)對有效信號的分辨能力。
直線光路設(shè)計
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer光路系統(tǒng)采用密閉式直線光路設(shè)計,無多余反射光學部件造成的雜散光,亦無粉塵污染干擾,同時采用高精度全鋁合金光學平臺,確保光路穩(wěn)固可靠。
后傅立葉變換單鏡頭設(shè)計
單鏡頭設(shè)計,采用透鏡后傅立葉變換結(jié)構(gòu),突破了傅立葉透鏡的光瞳制約,使散射光接收角不受傅立葉鏡頭口徑限制;而且單鏡頭光路中的折射、反射雜散光干擾被減少,可以進一步降低儀器工作時的背景噪聲極低水平,提高了儀器測量時的信噪比。
長焦距的傅里葉透鏡
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer選用具有長焦距的傅立葉透鏡,這樣增加了測量窗口到光電探測器平面的距離(也就是有效焦距),從而使光電探測器能夠準確探測到更小散射角度的散射光信號,大大增強了儀器對大顆粒的測試能力,儀器的測量上限達2000μm。
合理分布、高感光度的進口光電探測器
OMEC歐美克激光粒度分析儀-Topsizer光電探測器為特殊定制的進口光電探測器,確保儀器具有較高的分辨力和靈敏度。探測通道數(shù)多達98個,由前向、側(cè)向、大角度和后向光電探測器組成三維立體檢測系統(tǒng),探測角范圍達到0.016-140度。結(jié)合藍光散射信號,實現(xiàn)了空間全角度范圍散射光能信號的無縫接收,有效保證顆粒散射光能信息的全面準確獲取。
智能自動對中
智能軟件控制自動對中系統(tǒng)保證了準確的光學對中。智能判斷自動對中既可作為自動測量的一部分,亦可手動在屏幕上單擊鼠標來完成。智能自動對中系統(tǒng)保證了多次測量的重現(xiàn)性。
四、先進的高性能分散進樣系統(tǒng)
濕法進樣系統(tǒng):標配SCF-108A循環(huán)進樣器,采用燈籠頭下壓式水流循環(huán)回路設(shè)計,配備大功率準確自動控制攪拌電機,可達3500轉(zhuǎn)/分鐘的同時減少了氣泡和液體飛濺的產(chǎn)生,并具有效率高的分散、清洗、排干能力。內(nèi)置功率50W的效率高的管路超聲裝置,超聲強度無級連續(xù)可調(diào)。標配1000毫升樣品池,可根據(jù)客戶需求更換容量。
可選SCF-105B全自動循環(huán)進樣器,除加樣外的粒度測試操作均可自動控制完成。進樣池采用316L不銹鋼,配置效率50W底部超聲及速度可達4000轉(zhuǎn)/分鐘的精密攪拌裝置,均無極連續(xù)可調(diào)。
根據(jù)需要可選更多不同特性(例如微量、微量循環(huán)、耐腐蝕等)的濕法進樣器。
干法進樣系統(tǒng):標配DPF-110自動干法進樣器,分散氣壓0.05-0.6MPa無級可調(diào),三重可調(diào)下料機構(gòu)設(shè)計,配備壓電陶瓷精密振動控制單元及剛玉瓷分散管,可適應(yīng)于各種樣品及分散強度的測試要求。內(nèi)置分散壓傳感器和負壓傳感器,測試條件可追溯。測試窗口全密閉,具有負壓保護裝置,可有效防止窗口和主機的污染。
五、功能強大的分析軟件
軟件設(shè)計模塊化,儀器狀態(tài)可視化,操作界面人性化,流程界面清晰明了,擁有導航功能
儀器具備智能化自動化操作。能夠自檢和自動識別進樣系統(tǒng);每次測量前能自動測量電背景,有效減少電噪聲對測試結(jié)果的影響。配置自動化進樣器可以進行全自動干濕法粒度測試,手動測樣亦有清晰的導航測試功能。
完善、開放的樣品特性參數(shù)數(shù)據(jù)庫,具有常用樣品折射率和吸收率參數(shù)
具備SOP標準操作流程,減少人為因素的影響,使分析測試流程標準化
SOP測量控制界面:
多種數(shù)據(jù)分析模型,滿足不同特性樣品的測試需要
體積分布、表面積分布、長度分布和數(shù)量分布之間可以相互轉(zhuǎn)換
多種方式的測量數(shù)據(jù)導出,方便數(shù)據(jù)交流
具有兼容GMP附件《計算機化系統(tǒng)》要求的軟件解決方案,具備用戶分級、權(quán)限管理、數(shù)據(jù)完整性及可追溯功能。
六、良好的測試性能
寬廣的測量范圍
Topsizer的實測范圍為0.02-2000um,從亞微米顆粒到毫米級顆粒均可一次性實現(xiàn)檢測,能滿足粉體行業(yè)對顆粒粒度檢測與控制的各種需求。
對大顆粒具有強大測試性能
對納米、亞微米等超細顆粒具備良好識別能力
良好的重復(fù)性
Topsizer采用全自動的激光校正系統(tǒng)、自動對中系統(tǒng),從而確保了激光角度校準的準確度,避免了光路的飄移,確保測試的重復(fù)性誤差小于0.5%(標準粒子D50)。
取樣/次 | D10/μm | D50/μm | D90/μm |
1 | 13.49 | 36.97 | 71.64 |
2 | 13.46 | 36.94 | 71.73 |
3 | 13.51 | 37.06 | 71.76 |
Average | 13.49 | 36.99 | 71.71 |
SD | 0.03 | 0.06 | 0.06 |
RSD (%) | 0.19 | 0.17 | 0.08 |
良好的再現(xiàn)性
不同主機或不同進樣器之間具有良好的再現(xiàn)性。
杰出的分辨能力
Topsizer能夠準確測定樣品中顆粒分布的微小變化,準確反映樣品的實際粒度分布,能夠滿足技術(shù)研究和質(zhì)量控制的需要。
良好適應(yīng)性
可選具有強分散能力分散系統(tǒng),即使對于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀,從而滿足各種不同密度的顆粒粒度測試的需要。