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　　雜散光是光譜儀/單色儀的重要指標，在光譜測量中，雜散光也會對測量結果產生很大影響。雜散光可能會從光路橫向散射，導致功率損耗。另一個影響是雜散光會污染光譜儀線性相機的像素，探測器不僅會接收到要求波長的理想光。

　　

　　低雜散光光譜儀采用非交叉光路設計，大大提高了紫外響應，減少了雜散光的影響。它是一種高靈敏度的面陣探測器，是一種理想的高性能光譜測量產品。由于線性工作范圍更寬，特別適用于透射和吸光度檢測。超低雜散光和高靈敏度的結合也使顏色測量更快。

　　

　　低雜散光光譜儀在可見光范圍（360-825nm）具有低雜散光（0.015%at400nm）效果和良好的測色效果，提高了低照度下的測量靈敏度和處理效果，可與科研光譜儀相媲美，可應對各種應用挑戰(zhàn)在我們的光學結構中，我們使用可變間距的凹面光柵，使分束系統(tǒng)更有效光柵的中心光罩密度為550(+/-2)光罩/mm，標稱閃耀波長為400nm凹面光柵有助于提高其熱穩(wěn)定性在很寬的溫度范圍內測量結果幾乎沒有波長偏移，峰形具有良好的保留效果因此，在精密測量、熒光測量或吸光度測量中測量要求低雜散光和熱穩(wěn)定性，優(yōu)異的測量能力適用于需要寬測量范圍、低雜散光、高處理效率和良好熱穩(wěn)定性的各種應用：

　　

　　1、大氣中的微量氣體成分。

　　

　　2、輕稠物質溶液的吸光度。

　　

　　3、LED/激光等光源的精密測量。

　　

　　4、組織醫(yī)學劑量學和生物矢量測量。

　　

　　5、固體表面上的熒光和用于后向散射的溶液/溶液和粉末中的熒光。