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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> RLE-ME04-光學(xué)系統(tǒng)傳遞函數(shù)測量實驗
實驗簡介:
光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價工程上主要采用分辨率法和光學(xué)傳遞函數(shù)(MTF)測量法。分辨率法測量多用于大像差系統(tǒng),實驗簡便直觀;MTF測量法適用于一些高分辨率的光學(xué)系統(tǒng)。以上兩種測量方法已廣泛應(yīng)用于工程實實踐中。本實驗參照《工程光學(xué)》教材中“光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)評價”相關(guān)知識點設(shè)計開發(fā)而成。
實驗內(nèi)容:
1、分辨率板直讀法測量光學(xué)系統(tǒng)分辨率實驗;
2、利用變頻朗奇光柵測量光學(xué)系統(tǒng)MTF值實驗;
3、基于線擴(kuò)散函數(shù)測量光學(xué)系統(tǒng)MTF值實驗。
主要設(shè)備參數(shù):
1.平行光管組件:
光源:白光/三色LED,P>1W,亮度連續(xù)可調(diào);
平行光管:D/F=1:8,L=550mm,f=400mm;
MTF目標(biāo)物:線寬度10μm,精度1μm。
2. 測試組件:
變頻朗奇光柵;美軍標(biāo)USAF1951分辨率板,分辨力1~228C/mm,精度1μm。
3. 機(jī)械組件:
精密光學(xué)導(dǎo)軌: L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調(diào)節(jié)支座、支桿;高精度調(diào)節(jié)鏡架,穩(wěn)定性 <2′。
4. 光學(xué)組件:
光學(xué)透鏡:Φ40mm,光潔度III級,f=150~300mm 。
5. 探測器組件:
數(shù)字CMOS相機(jī):130萬像素,像素大小5.2μm×5.2μm,usb2.0,A/D:10bit 。
6. 講義及快速安裝指南。
7. 軟件組件:
相機(jī)標(biāo)定模塊,光學(xué)系統(tǒng)分辨測量模塊,MTF計算模塊。
選配設(shè)備參數(shù):
1、儀器設(shè)備防塵罩:外形尺寸:1400mm×360mm×300mm;觀察窗材料:亞克力透明擋板。
2、計算機(jī)(基本配置)。
實驗
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