天津步入式高溫老化試驗(yàn)室用于電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等行業(yè)。

天津步入式高溫老化試驗(yàn)室主要配置情況：

1、溫度控制器采用觸摸屏、薄膜按鍵控制儀表，隨用戶喜歡選擇使用。

2、庫(kù)體外箱采用不銹鋼板或彩鋼板，內(nèi)箱采用SUS304磨砂不銹鋼或彩鋼板。

3、擁有大型的觀察窗口和照明燈，方便查看箱內(nèi)試驗(yàn)物品狀況。

4、試驗(yàn)箱配置?50mm,測(cè)試孔，配發(fā)泡硅膠塞密封，可外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。（可按客戶需求增加測(cè)試孔經(jīng)數(shù)目）。

5、線路控制板及其它元器件均固定在便于檢查和維護(hù)的位置，采用門鎖開(kāi)啟式邊蓋門，不僅美觀，而且方便維護(hù)。

6、具備停電記憶功能，在來(lái)電后按原計(jì)時(shí)繼續(xù)完成剩余時(shí)間的試驗(yàn)工作，附雙重超溫保護(hù)，確保使用者和機(jī)器的安全。

老化房保護(hù)裝置：

1.所有風(fēng)機(jī)馬達(dá)都加有過(guò)流/缺相保護(hù)；

2.加熱器因?yàn)闀?huì)頻繁啟動(dòng)故以SSR固態(tài)繼電器為啟動(dòng)元件，保護(hù)元件為溫度開(kāi)關(guān)。

3.當(dāng)老化房產(chǎn)品老化區(qū)域?qū)嶋H溫度超過(guò)設(shè)定溫度值上限，則關(guān)閉產(chǎn)品AC電源，當(dāng)溫度降低至設(shè)定溫度值上限范圍以內(nèi)時(shí)重新開(kāi)啟產(chǎn)品AC電源，從而保護(hù)產(chǎn)品不會(huì)損壞；

4.當(dāng)老化房?jī)?nèi)出現(xiàn)火警，老化房?jī)?nèi)安裝的偵測(cè)器迅速動(dòng)作，啟動(dòng)火警電鈴警示，并切斷除報(bào)警電鈴電源以外的一切相關(guān)電源；

天津步入式高溫老化試驗(yàn)室技術(shù)性能：

#：內(nèi)箱采用SUS304磨砂不銹鋼或彩鋼板。庫(kù)體五面采用雙面彩鋼保溫庫(kù)板（EPS計(jì)算機(jī)色）拼裝而成，固定支撐鋁材橫梁，鋁型材板包邊；地面不做處理，接合處打密封玻璃膠，有效保證房間的密封性，室內(nèi)放置產(chǎn)品老化產(chǎn)品。

型號(hào)：BY-260LF

①規(guī)格的選擇：體積從1m3--100m3不等，按照用戶的需要設(shè)計(jì)定做

②溫度范圍：RT--80℃（可按照用戶的需求做到120℃）

③均勻度：2.0℃或3.0℃（可以按照用戶的需求設(shè)計(jì)）

④控制精度：2.0℃

⑤升溫時(shí)間：每分鐘約3℃。

⑥電源：380V+10% AC50HZ

解釋說(shuō)明：如：BY-260LF-6000L指的是燒機(jī)室，內(nèi)箱為6000L。

BY-260LF指的是我司老化試驗(yàn)箱的型號(hào)

6000位指的是箱內(nèi)體積（相對(duì)應(yīng)的數(shù)字代表內(nèi)箱體積，單位為L(zhǎng)）；

控制元件以PLC可程式控制器+HMI人機(jī)界面）+溫控器為核心元器件，來(lái)控制循環(huán)風(fēng)機(jī)/加熱器/排風(fēng)機(jī)動(dòng)作達(dá)到保證老化房恒溫的目的，對(duì)負(fù)載可控制AC/DC電源時(shí)序，及各項(xiàng)保護(hù)功能，從而保證設(shè)備安全可靠的運(yùn)轉(zhuǎn)。

高溫老化房用于電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，也是針對(duì)于開(kāi)關(guān)電源、手機(jī)充電器、電池、LCD、主板機(jī)、掃描器、監(jiān)視器、介面卡等做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備。