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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
EDX系列x熒光光譜儀，能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合金、貴金屬成份分析.
EDX系列x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
●分析元素范圍 S-U
●分析元素的濃度范圍 2ppm—*
●整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測時(shí)間100-120秒
●美國進(jìn)口電制冷Si（Pin）探測器
●電制冷Si（Pin）探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
●優(yōu)異的峰背比、*的痕量分析靈敏度
● 50KV,50W自防護(hù)X-射線管
●復(fù)合濾光片智能切換技術(shù)
特征：
☆可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛
☆集成FP法，Alpha系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
☆安全聯(lián)動(dòng)裝置，軟硬結(jié)合的輻射設(shè)計(jì)
☆操作簡單、一鍵式操作
☆智能軟件自動(dòng)參數(shù)設(shè)定和選擇濾光片
☆ X射線管超溫保護(hù)
☆電子冷卻，無需液氮和其它耗材
技術(shù)規(guī)格
儀器型號(hào) | EDX-1800x熒光光譜儀 | |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
分析范圍 | S（16）-U（92）任意元素 | |
檢出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
樣品形狀 | 任意大小，任何不規(guī)則形狀 | |
樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
管電壓 | 5─50KV | |
管電流 | 1─1000ｕA | |
探測器 | 美國AMP-TEK Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統(tǒng) | |
高壓發(fā)生器 | 美國SPELLMAN高壓發(fā)生器 | |
濾光片 | 智能濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換 | |
樣品觀察 | 500萬彩色攝像機(jī) | |
分析軟件 | *升級 | |
分析方法 | Alpha系數(shù)法（NBS-GSC法）、FP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法 | |
符合規(guī)范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 | |