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X熒光光譜儀檢測儀 古董鑒定儀器

 我公司研制生產(chǎn)的EDX4600型的儀器，利用中國博物館和上海研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na₂O、MgO、Al₂O₃、CaO、Fe₂O₃、K₂O、MnO、SiO₂、TiO₂、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

 EDX4600型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測*的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會等古文物收藏部門都是其用戶。

技術指標

產(chǎn)品名稱： X熒光光譜儀
型號：EDX4600    
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量zui薄至0.01微米
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s 
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V 
消耗功率：200W  
環(huán)境溫度: 15-26℃ 
相對濕度: ≤70%

標準配置

超薄窗大面積的*SDD探測器
可自動切換型準直器和濾光片
光路增強系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安全保護模式
外觀尺寸： 800×710×1360 mm
樣品腔尺寸：600×600×1000mm
重量：280kg

應用領域

古陶瓷
古青銅器
古首飾
鍍層測厚