DAQ6510數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)，DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面，可在儀器上更快完成設(shè)置、實(shí)時(shí)監(jiān)控測試狀態(tài)以及分析詳細(xì)數(shù)據(jù)。DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個(gè)內(nèi)置測量功能進(jìn)行測量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號。

DAQ6510數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)

減少測試設(shè)置、執(zhí)行和分析時(shí)間
設(shè)置和運(yùn)行測試簡單快速，無需編寫測試程序。 DAQ6510 數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡單的配置，以及可視的直觀測試設(shè)置、實(shí)時(shí)的掃描狀態(tài)可視信息，可盡早捕捉問題以避免丟失測試時(shí)間，便于分析測試數(shù)據(jù)。
特點(diǎn)
配置：使用一個(gè)測量和掃描配置菜單設(shè)置具有多種測量功能的多通道掃描。
運(yùn)行和監(jiān)視：在測試過程中顯示掃描進(jìn)度，即時(shí)查看超出范圍的測量結(jié)果和超出的限制。
分析：使用繪圖和統(tǒng)計(jì)功能顯示和分析結(jié)果。 使用觸摸屏的手指開合縮放功能深入研究結(jié)果。 使用光標(biāo)計(jì)算關(guān)于數(shù)據(jù)段的統(tǒng)計(jì)信息。

DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個(gè)內(nèi)置測量功能進(jìn)行測量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號。
特點(diǎn)

• 電壓：100 nV 至 1000 V，基本 DCV 精度為 0.0025%
• 電流：10pA 至 3A
• 電阻：1μΩ 至 120MΩ
• 電容：0.1 pF 至 100 μF
• 使用熱電偶、電阻溫度檢測器和熱敏電阻進(jìn)行溫度測量（溫度范圍為 -200°C 至 1820°C）
• 1 M 采樣/秒、16 位數(shù)字化器和可容納 700 萬個(gè)讀數(shù)的存儲
• 通過 12 個(gè)插件開關(guān)模塊和高達(dá) 80 個(gè)通道的容量為測試系統(tǒng)提供更多選擇
   

縮短測試時(shí)間
在短時(shí)間內(nèi)大限度地收集數(shù)據(jù)。 更快速地測量，更快地切換通道，以及掃描更多通道。
特點(diǎn)

• 對 60 Hz (50 Hz) 的電源線進(jìn)行短至 0.0005 個(gè)電源線周期或 8.3μs (10 µs) 的測量。
• 使用固態(tài)多路復(fù)用器插件開關(guān)模塊以每秒 800 個(gè)通道的速率進(jìn)行掃描。
• 掃描多達(dá) 80 個(gè) 2 極通道，可在單次測試中測試有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義的數(shù)量的 DUT。
   

快速可靠地連接到您的 DUT
如果您開始通過其許多插件開關(guān)模塊的接線頭 D-sub 連接，DAQ6510 甚至可以在您開始測試前就提高您的工作效率。 這可以在系統(tǒng)維護(hù)期間或在您設(shè)置新測試系統(tǒng)時(shí)，大限度減少更換插件開關(guān)模塊時(shí)產(chǎn)生的停機(jī)時(shí)間。
 

可將標(biāo)準(zhǔn) LAN、LXI 和 USB 接口輕松集成到您的測試系統(tǒng)中。 （可選）可在現(xiàn)場安裝的 GPIB 和 RS-232 接口包括 6 個(gè)數(shù)字 I/O 端口，可實(shí)現(xiàn)直接儀器間同步和通信。 DAQ6510 可以輕松與您選擇的任何 PC 接口配合使用。

使用 KickStart 數(shù)據(jù)采集應(yīng)用程序快速實(shí)現(xiàn) PC 自動化
使用 KickStart 儀器控制軟件在 PC 上快速編程數(shù)據(jù)采集測試。 軟件不需要編程。只需使用菜單屏幕輸入測試設(shè)置即可。 然后將以表格和圖形格式顯示結(jié)果。
 

輕松進(jìn)行環(huán)境測試和加速的使用壽命測試
使用觸摸屏顯示器快速設(shè)置有統(tǒng)計(jì)意義的設(shè)備數(shù)量的測試。 在測試過程中監(jiān)視測試狀態(tài)。 在觸摸屏上查看圖形或表格形式的數(shù)據(jù)。
特點(diǎn)
使用單個(gè) DAQ6510 主機(jī)在一個(gè)設(shè)置下測試多達(dá) 80 個(gè)設(shè)備。
如有必要，可使用 TSP-Link® 接口擴(kuò)展至更多的通道，以連接并控制多臺 DAQ6510 主機(jī)。
通過使用 8 種不同熱電偶、5 種不同 RTD 或 3 種不同熱敏電阻中的任一項(xiàng)，可監(jiān)視 -200°C 至 1820°C 范圍內(nèi)的溫度。
設(shè)置限值并定義要在測試期間監(jiān)視的關(guān)鍵通道，以便在問題發(fā)生時(shí)立即知情。
將測試數(shù)據(jù)存儲在外部 USB 驅(qū)動器或 PC 上，以確保重要數(shù)據(jù)不會丟失。
將 DAQ6510 編程為在斷電后重新啟動，以便在晚上和周末期間將丟失測試時(shí)間降至小。
 

經(jīng)濟(jì)高效地測試低值電阻組件
使用 DAQ6510 準(zhǔn)確、可靠地測試電纜、低值電阻和連接器等組件。
特點(diǎn)
以 1µΩ 靈敏度進(jìn)行測量。
使用 4 線電阻功能消除測試引線電阻誤差。
使用偏移補(bǔ)償功能消除熱接觸誤差。

增強(qiáng)測試能力并提高吞吐量
使用 DAQ6510 可以增加單個(gè)測試系統(tǒng)的設(shè)備數(shù)量，并大限度提高測試能力。 利用 DAQ6510 縮短測量時(shí)間和加快掃描速率。
特點(diǎn)
多可將一個(gè)測試系統(tǒng)擴(kuò)展為具有 80 個(gè)設(shè)備的測試系統(tǒng)容量。
采用 0.0005 電源線周期積分時(shí)間進(jìn)行快速測量。
使用固態(tài)繼電器卡進(jìn)行大批量生產(chǎn)，并以高達(dá) 800 通道/秒的速率掃描 DUT。
通過使用 DAQ6510 的內(nèi)部 TSP 程序執(zhí)行流程，使 DAQ6510 執(zhí)行并控制測試，以大限度減少與 PC 的通信時(shí)間。