2611B數(shù)字源表電源，源測(cè)量單元SMU，Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓源和測(cè)量解決方案，適用于高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用。 雙通道和單通道型號(hào)都緊密集成一個(gè)精密電源、真正電流源、數(shù)字萬用表和具有脈沖生成功能的電子負(fù)載。 另外，TSP® 技術(shù)可運(yùn)行完整測(cè)試程序，適用于自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用，TSP-鏈路®技術(shù)允許菊花式鏈接多 64 條通道，適用于大容量并行測(cè)試。

2611B數(shù)字源表電源

完整的生產(chǎn)測(cè)試，無需犧牲空間
滿足您的所有生產(chǎn)測(cè)試需求，在同一空間內(nèi)有兩條*隔離的寬動(dòng)態(tài)源和測(cè)量通道。 每條 40 W 通道提供 6½ 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測(cè)量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
使用 2600B 簡化 FET 測(cè)試
•在同一空間內(nèi)可有 2 條通道
•寬的電壓和電流動(dòng)態(tài)范圍
•高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測(cè)試能力

嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量
測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測(cè)試程序，提供業(yè)界性能。
使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測(cè)試
•消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信
•高級(jí)數(shù)據(jù)處理和流量控制
•通用型探頭/處理程序控制

系統(tǒng)性能，無主機(jī)
TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測(cè)試（而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。
使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量
•支持 <500 ns 通道間同步
•可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道
•隨著測(cè)試要求變化輕松重新配置
 

適合生產(chǎn)低電流性能
2635B 和 2636B SMU 在低 100 pA 范圍內(nèi)提供 0.1 fA、10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產(chǎn)成功。
•在低電流范圍內(nèi)穩(wěn)定時(shí)間快 7 倍
•具有市面上低電流分辨率
•直接三芯同軸連接簡化了設(shè)置

激光二極管 (VCSEL) 生產(chǎn)測(cè)試
適合激光二極管 (LD) 生產(chǎn)測(cè)試的業(yè)界直流測(cè)試系統(tǒng)，采用高速高精度 SMU 進(jìn)行激光二極管模塊光電二極管電流的電流源和電壓-電流監(jiān)測(cè)。 SMU 是實(shí)惠的 LIV 儀器，系統(tǒng)同步和吞吐量高。
激光二極管模塊和 VCSEL 的高吞吐量直流生產(chǎn)測(cè)試
•可編程電流源可達(dá) 10 A 和 100 µs
•電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
•內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
 

LED 簡化的 I/V 檢定
2600B 系列 SMU 用于 LED 直流檢定和生產(chǎn)測(cè)試。 其可配置為源電流或電壓與 0.02% 精度的電壓和電流測(cè)量結(jié)合，滿足各種測(cè)試需求。此外，其測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)還提供吞吐量優(yōu)勢(shì)。
LED 簡化的 I/V 檢定
高亮度 LED 的高速測(cè)試
實(shí)惠而準(zhǔn)確的 LED 生產(chǎn)測(cè)試
•可編程電流源可達(dá) 10 A 和 100 µs
•電壓和電流測(cè)量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
•內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
 

IDDQ 測(cè)試與待機(jī)電流測(cè)試
Keithley 的 2636B/35B 型號(hào)采用低電流靈敏度，旨在滿足生產(chǎn)環(huán)境的吞吐量要求。 其是 CMOS 集成電路和電子產(chǎn)品制造商測(cè)量靜態(tài)（待機(jī)）電流（又稱為漏電或 IDDQ）的理想之選，可檢查長時(shí)間使用可能導(dǎo)致故障的短路氧化柵極和其他缺陷。
IDDQ 測(cè)試與待機(jī)電流測(cè)試
•0.1 fA 分辨率
•穩(wěn)定時(shí)間比競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品快 7 倍

高度同步、多針、多通道、少主機(jī)生產(chǎn)系統(tǒng)
Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SourceMeter® SMU 儀器將堆架式儀器的可擴(kuò)展性和靈活性與基于主機(jī)系統(tǒng)的集成和高吞吐量相結(jié)合，使用 TSP 和 TSP-鏈路技術(shù)減少制造活動(dòng)和測(cè)試成本。
創(chuàng)建可擴(kuò)展、多針、多功能 IC 測(cè)試系統(tǒng)
•內(nèi)置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
•TSP-鏈路多達(dá) 32 臺(tái)儀器可在 500 ns 內(nèi)與其他 Keithley TSP 儀器同步