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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,地礦,能源,綜合 |
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石英砂中雜質(zhì)元素含量檢測(cè)儀器
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測(cè)等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備)、塑料(無鹵測(cè)試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、醫(yī)療器械重金屬含量測(cè)試、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測(cè)試,電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。
元素化學(xué)成分含量的測(cè)試,通常認(rèn)可的分析方法有:紫外可分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子熒光法(AFS)、電感耦合等離子體法(ICP)、X熒光光譜(XRF)(只能定性半定量)、電感耦合等離子質(zhì)譜法(ICP-MS),光譜法。各自優(yōu)缺點(diǎn)如下:
1. 原子吸收光譜法(AAS)
原子吸收光譜法是20世紀(jì)50年代創(chuàng)立的一種新型儀器分析方法,它與主要用于無機(jī)元素定性分析的原子發(fā)射光譜法相輔相成,已成為對(duì)無機(jī)化合物進(jìn)行元素定量分析的主要手段。這種方法根據(jù)被測(cè)元素的基態(tài)原子對(duì)其原子共振輻射的吸收強(qiáng)度來測(cè)定試樣中被測(cè)元素的含量。AAS法檢出限低,靈敏度高,精度好,分析速度快,應(yīng)用范圍廣(可測(cè)元素達(dá)70多個(gè)),儀器較簡單,操作方便等?;鹧嬖游辗ǖ臋z出限可達(dá)到10的負(fù)9次方級(jí)(10ug/L),石墨爐原子吸收法的檢出限可達(dá)到10ug/L,甚至更低。原子吸收光譜法的不足之處是多元素同時(shí)測(cè)定尚有困難。
2. X射線熒光光譜法(XRF)
X射線熒光光譜法是利用樣品對(duì)x射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測(cè)定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單,光譜干擾少,試樣形態(tài)多樣性及測(cè)定時(shí)的非破壞性等特點(diǎn),在幾分鐘之內(nèi)可同時(shí)測(cè)定20多種元素的含量。
3. 電感耦合等離子體法
(1)電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-AES)
高頻感應(yīng)電流產(chǎn)生的高溫將反應(yīng)氣加熱、電離,利用元素發(fā)出的特征譜線進(jìn)行測(cè)定譜線強(qiáng)度與重金屬量成正比。ICP-AES法靈敏度高,干擾小,線性范圍寬,可同時(shí)或順序測(cè)定多種金屬元素。
(2)電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS)
將電感耦合等離子體與質(zhì)譜聯(lián)用,利用電感耦合等離子體使樣品汽化,將待測(cè)金屬分離出來,從而進(jìn)入質(zhì)譜進(jìn)行測(cè)定,通過離子荷質(zhì)比進(jìn)行無機(jī)元素的定性分析、半定量分析、定量分析,同時(shí)進(jìn)行多種元素及同位素的測(cè)定,具有比原子吸收法更低的檢出限,是痕量元素分析領(lǐng)域中*的方法,但價(jià)格昂貴,操作復(fù)雜,易受污染。
下面對(duì)廣泛應(yīng)用于石英砂化學(xué)成分測(cè)試的X熒光光譜儀(XRF)、AAS、ICP做簡單介紹:
X熒光光譜儀(臺(tái)式):
技術(shù)規(guī)格
測(cè)量元素范圍 | 從鈉(Na)到鈾(U) |
測(cè)量濃度范圍 | ppm—99.99% (不同元素,分析范圍不同) |
測(cè)量對(duì)象狀態(tài) | 粉末、固體、液體 |
元素分析能力 | 一次性可測(cè)從鈉(Na)到鈾(U)之間幾十種元素 |
*分辨率 | 129eV±5eV |
**分析精度 | RSD≤0. 1% (國標(biāo)標(biāo)樣) |
分析時(shí)間 | 單次測(cè)試時(shí)間可調(diào) |
制冷方式 | 電制冷,無需任何耗材 |
大樣品腔尺寸 | 400mm x 340mm x 80mm |
抽真空樣品腔尺寸 | φ100mm×h75mm |
外觀尺寸 | 700mmx510 mmx336mm |
工作電源 | AC 220V ±5V 、50Hz |
工作環(huán)境 | 室內(nèi)溫度 15~30℃;相對(duì)濕度 ≤80% (不結(jié)露) |
整機(jī)重量 | 56KG |
性能特點(diǎn)
分析效率 | 速度快、精度好、效率高,采用自主研發(fā)的分析軟件能在 1- 120 秒內(nèi)同時(shí)完成從 11 鈉 (Na) 至 92 鈾 (U) 之間幾十種元素的 同步準(zhǔn)確分析 |
功能優(yōu)勢(shì) | 1. 外形設(shè)計(jì):大方美觀、堅(jiān)固耐用、多重安全防護(hù)模式。 2. 準(zhǔn)直濾光系統(tǒng):準(zhǔn)直器+多組合濾光片,軟體自動(dòng)切換, 滿足各種測(cè)試應(yīng)用。 3. 采用自主研發(fā)的SES 信號(hào)處理系統(tǒng) (數(shù)字多道) ,有效提 高峰背比,讓測(cè)量更精準(zhǔn)。 4. 多維散熱系統(tǒng):優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì),使整機(jī)散熱性能得 到更大提高,確保 X 射線源的運(yùn)行安全 5. 輻射安全系統(tǒng):多重防輻射泄露設(shè)計(jì),輻射防護(hù)級(jí)別屬于 同類產(chǎn)品好級(jí) 6. 真空系統(tǒng):選擇抽真空系統(tǒng),優(yōu)化測(cè)試環(huán)境,提高鎂鋁硅 磷硫等輕元素的分析精度,大大擴(kuò)展分析儀的分 析能力。 |
7. 機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù),確保射線源的安全可靠運(yùn) 行,有效延長其使用壽命,降低使用成本 | |
硬件優(yōu)勢(shì) | 8. 核心部件整套進(jìn)口 9. 探測(cè)器:原裝美國 Amptek 硅漂移 SDD 探頭,分辨率低 至 129eV±5eV ,能量線性和能量分辨率好,高峰背比。 10. X 射線 管 : *大 功率 50W 、 管 電壓 5-50KV 、 管 電流 0- 1000uA;長壽命 X 射線管。 11. 高壓電源:*大功率 50 W、電壓 0 -50 KV、電流 0- 1000uA。 8 小時(shí)穩(wěn)定性≤0.05%。 12. 信號(hào)處理器:采用進(jìn)口信號(hào)處理器,適應(yīng)高分辨率和高計(jì) 數(shù)率, 自調(diào)放大倍數(shù),*大道數(shù): 4096。 |
軟件優(yōu)勢(shì) | 美國丹納赫和我司共同研發(fā)的 X 熒光分析軟件中文版,該軟 件融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論α系數(shù)法、線性擬合、二次曲線、強(qiáng) 度校正、含量校正等多種分析方法,全面保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確 性。 |
儀器配置
系統(tǒng)標(biāo)配 | 1. 數(shù)字多道型 SDD 探測(cè)器 2. X 射線源 3. 高壓電源 4. 性噪比電子線路系統(tǒng) 5. 光路增強(qiáng)系統(tǒng) 6. 8 準(zhǔn)直+5 濾光片 7. 數(shù)字多道分析器 8. 抽真空系統(tǒng) 9. 品牌噴墨打印機(jī) 10. 品牌計(jì)算機(jī) 11. X 熒光全元素分析軟件 12. 樣品杯、保險(xiǎn)絲 13. 光譜專用穩(wěn)壓電源 (選配) |
系統(tǒng)選配 | 1. 光譜專用研磨機(jī) (選配) 2. 光譜專用熔樣機(jī) (選配) 3. 光譜專用制粉機(jī) (選配) 4. 熔樣鉑金坩堝 (選配) 5. 光譜儀專用壓片機(jī) (選配) |
AAS儀器設(shè)備介紹:
儀器測(cè)試元素:可測(cè)元素30余種
可測(cè)定:鋰(Li),鈉(Na),鉀(K),銣(Rb),銫(Cs),鎂(Mg),鈣(Ca),鍶(Sr),鋇(Ba),釩(V),鉻(Cr),錳(Mn),鐵(Fe),鈷(Co),鎳(Ni),銠(Rh),鈀(Pb), 鉑(Pt),金(Au),銅(Cu),銀(Ag),鋅(Zn),鍺(Ge),鎘(Cd),銦(In),鎵(Ga),鉛(Pb),砷(As),鉍(Bi),硒(Se),銻(Sb),釕(Ru)等(因測(cè)試樣品不同測(cè)試元素多少有所不同)。
性能指標(biāo)
1.光學(xué)系統(tǒng)
波長范圍 | 190nm—900nm 自動(dòng)調(diào)整 |
光柵刻線密度 | 1800刻線/mm |
單色器 | 消像差Czerny-Turner型單色器 |
狹縫 | 0.1、0.2、0.4、1.0、2.0nm,自動(dòng)切換 |
波長精確度 | ±0.10nm |
波長重復(fù)性 | 0.05nm |
基線漂移 | 靜態(tài)0.002A/30min 動(dòng)態(tài)0.006 A/30min |
檢測(cè)器 | 寬光譜范圍光電倍增管 |
分辨率 | 能分辨錳燈279.5nm和279.8nm雙線,并且兩譜線間波谷能量應(yīng)小于20% |
2.光源系統(tǒng)
燈座 | 3燈座 |
燈電源供電方式 | 400Hz方波脈沖 |
燈電流調(diào)節(jié)范圍 | 2— 10mA平均電流 |
3.原子化系統(tǒng)
無火焰(石墨爐)分析方法 | |
檢出限(Cd) | ≤4pg |
4.無火焰(石墨爐)分析方法
測(cè)量方法 | 石墨爐峰高法,石墨爐峰面積法 |
背景校正 | 氘燈背景校正大于60倍,自吸收扣背景大于60倍 |
重復(fù)測(cè)量次數(shù) | 1-30次,計(jì)算平均值,給出標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 |
結(jié)果打印 | 打印測(cè)試數(shù)據(jù)或最終分析報(bào)告。結(jié)果可導(dǎo)出成Excel工作表。 |
軟件環(huán)境 | Windows XP/ Windows 7操作系統(tǒng),中文專業(yè)軟件 |
二.儀器參數(shù)
電源 | AC 220V/50HZ |
功率 | 150VA |
儀器凈重 | 55kg |
儀器毛重 | 60kg |
工作環(huán)境溫度 | 10~35℃ |
工作環(huán)境濕度 | ≤80% |
標(biāo)準(zhǔn)配置
1.主機(jī)
2.空心陰極燈
3.操作軟件
原子吸收分光光度計(jì)設(shè)計(jì)特點(diǎn)
1. 全反射光學(xué)系統(tǒng),全波段消色差,波長自動(dòng)掃描、自動(dòng)尋峰。
2. 具有氘燈扣背景,自吸扣背景。
3. 自動(dòng)調(diào)節(jié)負(fù)高壓、燈電流、元素?zé)粑恢秒S意調(diào)整能量好。
8支空心陰極燈架。自動(dòng)控制系統(tǒng),全自動(dòng)掃描波長。
4. 石墨爐升溫:用戶可根據(jù)需要自由設(shè)定升溫曲線。
采用*的石墨爐恒功率法加熱原子吸收,實(shí)現(xiàn)了石墨管溫度均勻一致,石墨管工作溫度保持良好動(dòng)態(tài)穩(wěn)定,既能保證原子化效率,又可以保證檢測(cè)數(shù)據(jù)高重復(fù)性,大幅提高了石墨爐法檢測(cè)精密度。同時(shí)又延長石墨管的使用壽命,保證了分析準(zhǔn)確度。
5 高可靠性,儀器結(jié)實(shí)耐用:由于采用模塊化生產(chǎn),每個(gè)模塊生產(chǎn)后進(jìn)行單獨(dú)質(zhì)量檢驗(yàn)驗(yàn)收。各模塊進(jìn)行整機(jī)組裝后又進(jìn)行整機(jī)質(zhì)量考驗(yàn)驗(yàn)收,經(jīng)過多層次嚴(yán)格考驗(yàn)驗(yàn)收的儀器,大幅提高了儀器的可靠性,使得儀器非常結(jié)實(shí)耐用。
6 可靠的安全保護(hù)系統(tǒng):采取多種安全保護(hù)措施,保護(hù)操作人員的安全。
7 完善的石墨爐保護(hù)措施:同時(shí)檢測(cè)保護(hù)氣壓力、冷卻水流量,出現(xiàn)異常波動(dòng),立即停止加熱,并提示報(bào)警。
8 冷卻水流量監(jiān)視器:保證冷水流量足,保證能冷卻爐體時(shí),石墨爐才可以加熱升溫。
9 石墨爐分析時(shí),屏幕給出全過程信息,包括測(cè)量值、溫度、程序、時(shí)間等,并保存積分時(shí)間內(nèi)所有測(cè)量的信號(hào)曲線和溫度曲線,供用戶調(diào)閱和打印。
10 根據(jù)需求隨時(shí)升級(jí)成為火焰-石墨爐一體機(jī)。
ICP儀器設(shè)備介紹:
ICP等離子體光譜儀的特點(diǎn):
1.射頻發(fā)生器的高壓供電回路,采用*的電子技術(shù),淘汰了笨重的升壓變壓器和高頻阻流圈,采用功率閉環(huán)反饋技術(shù),控制精度小于0.1% 。
2.全自動(dòng)點(diǎn)火,氣路智能控制,實(shí)現(xiàn)軟件點(diǎn)火,更方便。
3.安全冷卻水保護(hù)、氬氣保護(hù)、過壓、過流、滅弧保護(hù)更安全。
4.輸出功率自動(dòng)匹配調(diào)諧,功率參數(shù)軟件程序設(shè)定。
5.分光器內(nèi)充氬氣,使波長在180nm的硫和189nm的Sn得到很靈敏的測(cè)量效果。
6.優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),*的控制系統(tǒng),保證峰位定位準(zhǔn)確,信背比優(yōu)良、極小的基體效應(yīng)。
7.測(cè)量范圍寬,超微量到常量的分析,動(dòng)態(tài)線性范圍5—6個(gè)數(shù)量級(jí)。
8.檢出限低,大多數(shù)元素的檢出限可達(dá)ppb級(jí)。
9.良好的測(cè)量精度,穩(wěn)定性相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤1.5%(5ppm),優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)(JJG768-2005)。
技術(shù)參數(shù)
射頻發(fā)生器(RF)
(1) 電路類型:自激振蕩電路,全自動(dòng)點(diǎn)火,精密高壓開關(guān)電源供電系統(tǒng),所有功能實(shí)現(xiàn)電腦軟件控制(點(diǎn)火、熄火、功率等參數(shù)設(shè)置);實(shí)時(shí)功率控制;自動(dòng)匹配調(diào)諧;光室恒溫;;
(2) 工作頻率:40.68MHZ±0.05%
(3) 頻率穩(wěn)定性:<0.1%
(4) 輸出功率:700-1600w
(5) 輸出功率穩(wěn)定性:≤0.3%
(6) 電磁場(chǎng)泄漏輻射強(qiáng)度:距機(jī)身300mm 電場(chǎng)強(qiáng)度E:<2V/m
進(jìn)樣裝置:
(1) 輸出工作線圈內(nèi)徑25mm,3匝
(2) 炬管:外徑20mm的石英炬管
(3) 同軸型噴霧器外徑6mm
(4) 雙筒形霧室外徑35mm
(5) 氬氣流量計(jì)規(guī)格和載氣壓力表規(guī)格:
①、 等離子體流量計(jì)(100-1000)L/h ;(1.6-16L/min)
②、 輔助氣流量計(jì)(6-60)L/h ;(0.1-1L/min)
③、 載氣流量計(jì)(6-60)L/h ;(0.1-1L/min)
④、 載氣穩(wěn)壓閥(0-0.4MPa)
儀器內(nèi)設(shè)氬氣二次穩(wěn)壓閥(0.3MPa)
測(cè)光裝置:
(1) 光電倍增管規(guī)格: R212UH
(2) 光電倍增管負(fù)高壓:200-1000V ,穩(wěn)定性<0.05%
(3) 光電倍增管電流測(cè)量范圍:10-12 -10-4A
(4) 信號(hào)采集為V/F交換:1mV對(duì)應(yīng)100Hz
分光器:
(1) 光路: Czerny-Turner
(2) 焦距: 1000mm
(3) 光柵規(guī)格:離子刻蝕全息光柵,刻線密度3600線/mm,
刻線面積: 80×110mm,線色散率倒數(shù):0.26nm
(4) 波長范圍:180-500nm
(5) 分辨率: ≤0.008nm
(6) 掃描波長范圍3600線/mm 掃描波長范圍:180-500nm
(7) 步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)最小步距:0.0006nm
(8) 入射狹縫:20µm 出射狹縫:25µm
(9) 發(fā)射鏡規(guī)格:(78 × 105 × 16)mm
(10) 透鏡ф30,1:1成像
整機(jī)技術(shù)指標(biāo):
(1) 測(cè)量波長范圍:
180-500nm 3600L/mm光柵
180-800nm 2400 L/mm光柵
(2) 測(cè)量精度(重復(fù)性):平均相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤1%
(3) 測(cè)量穩(wěn)定性:平均相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤2
(4) 檢出下限:亞PPb級(jí)
應(yīng)用行業(yè)分類
1、金屬類
鋼鐵:包括碳素鋼、鑄鐵、合金鋼、高純鐵、鐵合金、硅鐵、錳鐵、釩鐵、鐵礦石,鉛的冶煉等。
2、有色金屬分析:
純銅,純鋁和合金中的雜質(zhì)元素分析。
貴金屬的純度分析:Au、Ag、Pt、Pd、Ir、Rh、Os、Ru。
3、環(huán)境檢測(cè)類
水質(zhì)分析:礦泉水、自來水、河水、海水、污水、廢水等。
食品分析:包括食品、飲料等。
土壤成份分析:生物和植物樣品的分析。
4、稀土材料和稀土永磁類
稀土元素全分離,此儀器高分辨率非常適合稀土元素的分析。
稀土永磁材料中對(duì)釹鐵硼材料的配分和成份的分析。
5、地質(zhì)礦物的分析
精選礦的分析
普查找礦分析
6、食品醫(yī)藥分析
食品中有益、有害元素的分析、藥材中的微量元素分析
7.其他行業(yè)
安裝條件
1、儀器正常工作條件:實(shí)驗(yàn)室內(nèi)清潔、干燥、無灰塵、無振動(dòng)。室溫保持為22℃±3℃
2、房間:15平米左右為宜,配有標(biāo)準(zhǔn)溶液試劑柜,電腦桌、電腦椅,空調(diào)1.5—2匹。
3、電源:220V,22A,使用4平方的電線。
4、接地:為了安全和儀器的穩(wěn)定,必須有高頻接地,用300×300×3mm的紫銅板埋于地下1.5米深處,用寬30×0.5mm的紫銅帶接到主機(jī)的機(jī)殼上。
5、排風(fēng):要求在主機(jī)上方安裝排風(fēng)筒,外接煙囪并用排風(fēng)扇將ICP燃燒后的廢氣排到室外。
6、氬氣:可使用普通氬氣99.99%即可
典型元素檢出限(μg/L)(測(cè)試對(duì)象不同有所不同):
元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
波長(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
波長(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
檢出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
波長(nm) | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
檢出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
波長(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
檢出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
波長(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
波長(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
檢出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
波長(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
檢出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
波長(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
檢出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
波長(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
檢出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
石英砂中雜質(zhì)元素含量檢測(cè)儀器
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