HY(SL)三輪測試儀
HY(SL)三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試??ū环诺綑C器中,測試輪將循環(huán)測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率為0.5Hz,向下的壓力為8N。經(jīng)過測試,檢查芯片情況,芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試。
電源:110-22V 50-60HZ
· 測試標(biāo)準(zhǔn)參考:Mcd
· CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考:P-22
· 測試方法參考:10.3.22
· CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2