首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 安東帕:納米劃痕測(cè)試專家
納米劃痕測(cè)試儀專門用于表征厚度小于 1000 nm 的薄膜和涂層的附著失效情況。納米劃痕儀可用于分析有機(jī)的 和無機(jī)的及軟和硬的涂層。如:薄的或多層的 PVD、CVD、PECVD薄膜、光刻膠、油漆、涂料和其他各種涂層,包括:微電子、防護(hù)、裝飾等其他應(yīng)用?;w可以是硬的或軟的,包括合金、半導(dǎo)體、玻璃、可折射的和有機(jī)材料。
安東帕納米壓痕儀(NST)在原瑞士CSM儀器公司的堅(jiān)實(shí)技術(shù)基礎(chǔ)上,結(jié)合安東帕在工程和電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域半個(gè)多世紀(jì)的豐富經(jīng)驗(yàn),推陳出新,使其更加切合客戶使用習(xí)慣,滿足大家現(xiàn)在和未來的需求。
的納米劃痕測(cè)試
· 的雙懸臂梁和壓電式驅(qū)動(dòng)器組合
· 作用力反饋回路控制
· 高精度成型
· 具有的同步多聚焦全景技術(shù)的自動(dòng)視頻顯微鏡
· 適用于彈性恢復(fù)研究的真實(shí)滲透深度測(cè)量
· 劃痕深度測(cè)量采用測(cè)量前后掃描校正
· 高質(zhì)量的光學(xué)成像(光學(xué)視頻顯微鏡具有 4 個(gè)載物臺(tái))
· 的磨損測(cè)試
· 符合 ISO 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)
選件:
· 納米壓痕,微米壓痕,壓痕測(cè)試,壓痕測(cè)試儀,微米劃痕,納米摩擦摩損測(cè)試模塊,劃痕測(cè)試儀
· 真空、濕度或溫度控制
· AFM 和 ConScan 三維成像
· 載荷、摩擦力和劃痕深度的校驗(yàn)工具箱
更多信息,歡迎訪問安東帕中文:http://www.anton-paar.com/cn-cn/products/group/scratch-testing/
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
立即詢價(jià)
您提交后,專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)