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更新時(shí)間:2024-11-22 11:46:03
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這款雙折射偏振態(tài)測(cè)試儀是多功能光譜偏振態(tài)測(cè)試儀,Spectroscopic Polarimeter,可測(cè)量400nm~800nm范圍每個(gè)波長(zhǎng)的偏振態(tài)。該雙折射偏振態(tài)測(cè)試還具有斯托克斯偏振態(tài)分析、穆勒矩陣測(cè)量和映射mapping測(cè)量等功能,非常適合液晶顯示器、投影儀、偏振光學(xué)元件、偏振光學(xué)、晶體、生物樣品、熒光偏振等偏振態(tài)測(cè)量分析。
雙折射偏振態(tài)測(cè)試儀特點(diǎn)
•無(wú)需校準(zhǔn),儀器在整個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行了校準(zhǔn)。
•波長(zhǎng)分辨率高達(dá)2nm,采用分光計(jì)代替帶通濾波片。
•可測(cè)量發(fā)散角和散射光,不僅可以測(cè)量準(zhǔn)直光,還可以測(cè)量各種物質(zhì)發(fā)光和反射光。
•用戶(hù)友好軟件,控制軟件非常易用,便于用戶(hù)控制和查找結(jié)果,測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)在csv文件中。
各種偏振能力測(cè)量
•雙折射測(cè)量:在0~10萬(wàn)nm量級(jí)范圍內(nèi),可同時(shí)測(cè)量快軸方向和延遲量。
•穆勒矩陣測(cè)量:可以進(jìn)行更高水平的偏振分析。
•Mapping繪圖能力:自動(dòng)XY工作臺(tái)可選配,方便樣品偏振特性的分布。
客戶(hù)訂制化系統(tǒng)
我們可以對(duì)標(biāo)準(zhǔn)斯托克斯偏振測(cè)量?jī)x 按照客戶(hù)要求進(jìn)行定制,比如紫外-近紅外(UV-NIR)偏振態(tài)測(cè)量?jī)x、用于測(cè)量微弱光的高靈敏度斯托克斯偏振測(cè)量?jī)x系統(tǒng)、連接到顯微鏡上的斯托克斯偏振測(cè)量?jī)x系統(tǒng)等等。
偏振樣品的高級(jí)分析
利用外加的偏振態(tài)發(fā)生器(PSG)和軟件可以測(cè)量樣品的偏振特性。斯托克斯偏振測(cè)量?jī)x的PSG和測(cè)量頭單元可自由布置。它為需要構(gòu)建適合多種應(yīng)用的測(cè)量系統(tǒng)的用戶(hù)提供了方便。從測(cè)量的幾個(gè)stokes參數(shù)可以計(jì)算出如下偏振特性。
線(xiàn)二色性——線(xiàn)偏振光吸收
圓二色性——圓偏振光的吸收
線(xiàn)性雙折射——相移(線(xiàn)性?圓偏振)
旋光——線(xiàn)偏振的旋轉(zhuǎn)
去極化——降低DOP的能力
雙折射偏振態(tài)測(cè)試儀規(guī)格
測(cè)量參數(shù) 斯托克斯參數(shù)(S0,S1,S2,S3),橢圓度,偏振方向,偏振度(DOP,DOLP,DOCP),偏振消光比
數(shù)據(jù)繪圖 圖形(波長(zhǎng)v.s.參數(shù)),圖形(數(shù)據(jù)點(diǎn)v.s.參數(shù)數(shù)量),龐加萊球,Ellips視圖,警報(bào)(低光,飽和時(shí))
特色功能 單次掃描,連續(xù)掃描,確認(rèn)掃描,自動(dòng)曝光
斯托克斯偏振計(jì)
波長(zhǎng)范圍 400~800nm
波長(zhǎng)分辨率 <2nm
波長(zhǎng)數(shù) 1500
最小測(cè)量時(shí)間 6秒
高精度模式測(cè)量時(shí)間 >20秒
精度 <2%
重復(fù)精度 0.01@3σ(斯托克斯參數(shù))
方向精度 ±0.2度(基準(zhǔn)面為底面)
測(cè)量原理 波片旋轉(zhuǎn)、波片和分析儀旋轉(zhuǎn)
雙折射偏振計(jì)
原理 雙斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長(zhǎng) 與斯托克斯偏振計(jì)相同
測(cè)量時(shí)間 斯托克斯測(cè)量值的2倍
遲滯范圍 0~λ/2納米,使用擬合方法,最大值為100000nm
快速軸范圍 ±90度
重復(fù)性 1度(延遲)
穆勒矩陣偏振計(jì)可選
原理 四斯托克斯數(shù)據(jù)分析
波長(zhǎng) 與斯托克斯偏振計(jì)相同
測(cè)量時(shí)間 斯托克斯測(cè)量值的4倍
重復(fù)性 ±0.01(16個(gè)矩陣元素)
數(shù)據(jù)分析 線(xiàn)性二向衰減,圓形二向衰減,線(xiàn)性雙折射,圓雙折射,去偏振
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)