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單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)、開爾文掃描探針系統(tǒng)、開爾文探針、掃描探針系統(tǒng)、探針系統(tǒng)

這款單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)是用于室溫條件和普通實(shí)驗(yàn)室條件下的開爾文掃描探針系統(tǒng),Kelvin Probe System.它具有極為緊湊結(jié)構(gòu)，可安放到各種環(huán)境箱或防塵罩中。
單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)的探針頭與振蕩薄膜一起使用，預(yù)放大器集成到探針頭中，方便更換。

開爾文探針系統(tǒng)參數(shù)

• 探針與樣品表面之間采用電動(dòng)控制調(diào)節(jié)距離

• Z軸定位分辨率: 5 µm

• 功函分辨率: < 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals

• 小的探針直徑: 0.1 mm

• 集成法拉第防護(hù)功能

• 開爾文探針頭采用純金工藝，底板表面鍍金

• 樣品架磁性固定到底板上

• 樣品架直徑：40mm 帶有 3 mm 孔用于標(biāo)準(zhǔn)SEM樣品架子

• 大可測樣品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate)

• 振動(dòng)隔離腿設(shè)計(jì)

• 包括參考樣品材料: HOPG, Au on Si

• 配備湯姆森控制器和計(jì)算機(jī)

• 可選配溫度和濕度傳感器

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