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當(dāng)前位置：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司>>膜厚儀>>Thetametrisis膜厚儀>> FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀
1、簡述
FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。
FR-InLine 在線薄膜厚度測量儀(膜厚儀)并可以依據(jù)各種不同應(yīng)用設(shè)置多個參數(shù)的實時測量，例如：反射率和透射率光譜、厚度、色座標(biāo)。
FR-InLine 膜厚儀測量軟件可以在標(biāo)準(zhǔn) Windws 10/11 中執(zhí)行。
2、產(chǎn)品應(yīng)用
透明和半透明涂層
眼鏡上的涂層
食品工業(yè)
光學(xué)薄膜
包裝
粘合劑
聚合物
可撓式電子和顯示器
其他各種工業(yè)……
（聯(lián)系我們了解您的應(yīng)用需求）
3、產(chǎn)品特征
FR-InLine 膜厚儀提供半寬（蕞多 4 通道）和全寬（蕞多 8 通道）3U 機(jī)架安裝機(jī)箱，可實時測量涂層的薄膜厚度。 FR-InLine 通過標(biāo)準(zhǔn)I/控制埠為啟動/停止/復(fù)位功能提供外部觸發(fā)選項。測量數(shù)據(jù)可立即供其他軟件使用，以進(jìn)一步調(diào)整生產(chǎn)流程。工程師可以輕易完成安裝。
4、附件
FR-InLine 附帶多個附件，例如：
§TCP/IP 通信
§支持任何特定需求長度和配置的反射探頭和光纖
§光學(xué)模塊（例如聚焦透鏡、運動支架），以協(xié)助探頭安裝在產(chǎn)線上
5、其他特點
提升流程運行時間和產(chǎn)品質(zhì)量
減少原材料消耗和成本控制
6、FR-InLine 規(guī)格（標(biāo)準(zhǔn)配置）
Model | UV/Vis | UV/NIR-EXT | VIS/NIR | NIR | NIR-N1 |
WLRange–nm波長 | 200–850 | 200–1020 | 370–1020 | 900–1700 | 850-1050 |
Pixels像素 | 3648 | 3648 | 3648 | 512 | 3648 |
ThicknessRange*1 | 3nm-80um | 3nm-90um | 15nm-90um | 200um | 1um-400um |
n&k-MinThick | 50nm | 50nm | 100nm | 500nm | |
Thick.Accuracy*2 | 1nm/0.2% | 1nm/0.2% | 1nm/0.2% | 3nm/0.4% | 50nm/0.2% |
Thick.Precision*3,4 | 0.02nm | 0.02nm | 0.02nm | 0.1nm | |
Thick.stability*5 | 0.05nm | 0.05nm | 0.05nm | 0.15nm | |
LightSource | ExternalDeuterium&Halogen,2000h | Halogen(internal)3000h(MTBF) | |||
IntegrationTime | 5msec(min) | 5msec(min) | |||
Spotsize | Diameterof350um(smallerspotsizeoptionsareavailableuponrequest) | ||||
MaterialDatabase | >700differentmaterials | ||||
Connectivity | USBorTCP/IP | ||||
Power | 100-240V50-60Hz | ||||
注：
*1、規(guī)格如有變更，恕不另行通知
*2、與校正過的光譜橢偏儀和x射線衍射儀的測量結(jié)果匹配
*3、超過15天平均值的標(biāo)準(zhǔn)偏差平均值，樣品:硅晶片上1微米Si2
*4、標(biāo)準(zhǔn)偏差100次厚度測量結(jié)果，樣品:硅晶片上1微米Si2,
*5、15天內(nèi)每日平均值的2*標(biāo)準(zhǔn)差。樣品:硅片上1微米Si2。
